【導讀】為什么不能只使用頻譜分析儀 行業(yè)對成像雷達、移動(dòng)通信、衛星通信、天氣監測等應用中的純頻譜信號的需求不斷增長(cháng)。這需要對信號生成設備進(jìn)行快速、準確和可重復的表征。需要專(zhuān)用的相位噪聲和幅度噪聲測量系統，其測量本底噪聲通常優(yōu)于 -180 dBc/Hz。所需要的是測量晶體振蕩器（VCXO、OCXO）、SAW 振蕩器、合成器、鎖相環(huán)和 VCO（鎖定或自由運行高 Q）的相位噪聲以及附加相位噪聲的儀器。放大器、混頻器、分頻器和乘法器。
為什么不能只使用頻譜分析儀 行業(yè)對成像雷達、移動(dòng)通信、衛星通信、天氣監測等應用中的純頻譜信號的需求不斷增長(cháng)。這需要對信號生成設備進(jìn)行快速、準確和可重復的表征。需要專(zhuān)用的相位噪聲和幅度噪聲測量系統，其測量本底噪聲通常優(yōu)于 -180 dBc/Hz。所需要的是測量晶體振蕩器（VCXO、OCXO）、SAW 振蕩器、合成器、鎖相環(huán)和 VCO（鎖定或自由運行高 Q）的相位噪聲以及附加相位噪聲的儀器。放大器、混頻器、分頻器和乘法器。
雖然頻譜分析儀可用于產(chǎn)生一些特征，但它對于區分幅度和相位噪聲沒(méi)有太大幫助。頻譜分析儀不僅無(wú)法分離幅度噪聲和相位噪聲，而且動(dòng)態(tài)范圍和本底噪聲不足。頻譜分析儀內部本振的相位噪聲過(guò)高，且分辨率帶寬不足。因此，需要一個(gè)專(zhuān)用系統來(lái)解調然后分別分析幅度和相位噪聲。
解決方案
總部位于瑞士的 Anapico 生產(chǎn)了 APPH 系列自動(dòng)信號源分析儀，該分析儀將幅度調制和相位調制測量分開(kāi)，獨立測量極低噪聲水平（低于 -180 dBc/Hz），并能夠測量有源和無(wú)源的附加噪聲成分。APPH 分析儀提供高達 30GHz 的測量能力，具有完全集成的互相關(guān)系統，可響應相位、幅度和基帶噪聲測量的常見(jiàn)問(wèn)題，提供高精度和再現性、快速測量速度、高動(dòng)態(tài)范圍以及系統本底噪聲低，同時(shí)仍然適合實(shí)驗室和生產(chǎn)環(huán)境。
系統架構
APPH 系列的引擎將低噪聲模擬接收器通道與先進(jìn)的數字信號處理技術(shù)相結合，提供快速且可重復的噪聲測量?；?FPGA 的專(zhuān)有 FFTcross 分析儀可實(shí)時(shí)處理 125MSa/s，允許在幾秒鐘內進(jìn)行數千次相關(guān)和低于 -170dBc/Hz 的測量。LAN或USB控制的APPH系列可以使用PC、筆記本電腦或平板電腦作為控制器，因此無(wú)需合并顯示器，從而限度地降低產(chǎn)品成本，同時(shí)提高可靠性。
校準
將系統封裝在緊湊的無(wú)風(fēng)扇機箱中，進(jìn)一步消除了雜散信號以及接地和電源線(xiàn)環(huán)路。另一個(gè)非常重要的考慮因素是校準。發(fā)貨前，每臺儀器都根據可追溯的噪聲標準進(jìn)行校準，以保證高精度、一致和可重復的結果。另外，儀器還可以提供校準標準，以便用戶(hù)隨時(shí)進(jìn)行現場(chǎng)性能驗證。
測量能力
Anapico 的 APPH 儀器支持的測量包括：使用內部或外部參考的附加或相位噪聲測量、幅度噪聲測量以及用于評估 RF 信號源的其他自動(dòng)測量?？奢p松對晶體振蕩器、PLL 合成器、時(shí)鐘、鎖相 VCO、DRO 等源進(jìn)行 SSB 相位噪聲、幅度噪聲、AM 噪聲測量、附加或殘余噪聲表征以及高達 30GHz 的基帶噪聲測量。
圖 2 中所示的相位噪聲數據是從低噪聲 100 MHz OCXO 基準收集的數據。顯示的三個(gè)跡線(xiàn)分別是次相關(guān)（綠色，12 秒測量時(shí)間后）、10 次相關(guān)（藍色，120 秒后）和 100 次相關(guān)（紅色，20 分鐘后）之后的跡線(xiàn)。10 次相關(guān)或兩分鐘后，DUT 的本底噪聲就達到 -180 dBc/Hz。對于這種超低噪聲測量，使用外部參考源可以更快地獲得結果。使用內部參考運行的系統的靈敏度取決于 DUT 的載波頻率和頻率偏移范圍。
圖 3 顯示了使用內部源進(jìn)行測量時(shí) APPH 的典型靈敏度，假設測量時(shí)間約為 24 秒，偏移范圍為 1Hz 至 10MHz。然而，APPH 信號源分析儀還可以測量不同驅動(dòng)條件下放大器的附加相位噪聲，以及預分頻器或混頻器等頻率轉換設備的相位噪聲。此外，還支持幅度噪聲測量。
圖 4 顯示了從 Anapico 信號發(fā)生器之一在 4 GHz 下獲得的幅度噪聲，顯示了帶有用戶(hù)定義標記和雜散列表的跡線(xiàn)。APPH 還提供對 FFT 分析儀的直接訪(fǎng)問(wèn)，從而可以對電源和控制電壓進(jìn)行噪聲分析。具有擴展偏移范圍的 APPH6040 以及 APPH20G 提供超過(guò) 40 MHz 的帶寬和瞬態(tài)測量功能。
圖 3：APPH 與內部參考源的靈敏度（24 秒后）。
結論
APPH 系列相位噪聲測試儀提供了完整的測量功能，可用于評估各種射頻信號源。它們提供全面的測量，例如相位和幅度噪聲測量、殘余噪聲表征，并可直接訪(fǎng)問(wèn) FFT 分析儀進(jìn)行基帶信號和 LF 噪聲分析。使用經(jīng)過(guò)驗證的互相關(guān)測量程序和自校準例程，即使在不斷變化的環(huán)境條件下也可以獲得可重復且準確的測量結果。全自動(dòng)頻率采集和自校準極大地簡(jiǎn)化了儀器的使用和適用性，從而實(shí)現快速測量和易于操作。
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