【導讀】電源中一顆特定的二極管在經(jīng)過(guò)裝置的機械跌落測試(drop test)后發(fā)生了短路故障，這種情況一而再地反復發(fā)生...機械沖擊似乎是引發(fā)故障的原因...
多年前，我曾經(jīng)在一項射頻(RF)應用中使用了2N918晶體管。該晶體管采用TO-72大小的封裝，其中有4根導線(xiàn)，分別用于連接集電極、發(fā)射極、基極和晶體管的金屬罐。后來(lái)，由于在設計和繪圖時(shí)遇到了布局問(wèn)題，因而想切斷連接晶體管金屬罐的導線(xiàn)。于是，我聯(lián)絡(luò )了供貨商詢(xún)問(wèn)細節。
“不！千萬(wàn)別那樣做喔！”供貨商回復說(shuō)，切斷該導線(xiàn)連接可能導致機械脈沖進(jìn)入裝置中，因而可能損壞半導體芯片。
切斷導線(xiàn)引發(fā)的機械脈沖可能損壞芯片。請先記住這個(gè)想法，稍后將會(huì )進(jìn)一步討論。
最近，剛好有朋友來(lái)找我討論電源問(wèn)題，他提到在電源中有一顆特定的二極管在經(jīng)過(guò)該裝置的機械跌落測試(drop test)后發(fā)生了短路故障。由于這種情況一而再地反復發(fā)生。因此，多年前那個(gè)2N918晶體管問(wèn)題的想法又重新浮現在腦海中。
由于機械沖擊似乎是引發(fā)故障的原因，我建議朋友先查查看二極管接線(xiàn)端子的連接是剛性還是軟性的。請參見(jiàn)圖 1。
圖 1：機械跌落測試的替代連接方法。
如果那根導線(xiàn)的堅硬度足以支撐聯(lián)合國(UN)大樓其中一翼，那么在跌落測試期間，它可能會(huì )傳遞機械脈沖至該二極管封裝中。接著(zhù)，這些脈沖可能會(huì )被傳輸至無(wú)法承受這種損壞的半導體芯片本身。
我建議讓二極管保持靈活的連接，并進(jìn)一步建議使用軟性編織物來(lái)取代剛性導線(xiàn)，即可實(shí)現這一目的。
有時(shí)這真的是最簡(jiǎn)單的事。但從那時(shí)起，我就再也沒(méi)聽(tīng)說(shuō)過(guò)有關(guān)二極管故障的消息了。
(參考原文：The diode and the drop test，作者：John Dunn，編譯：Susan Hong)
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