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驅動(dòng)器源極引腳的效果:雙脈沖測試比較

發(fā)布時(shí)間:2022-06-24 來(lái)源:ROHM 責任編輯:wenwei

【導讀】在上一篇文章中,我們通過(guò)工作原理和公式了解了有無(wú)驅動(dòng)器源極引腳的差異和效果。有驅動(dòng)器源極引腳的MOSFET可以消除源極引腳的電感帶來(lái)的影響,從而可降低開(kāi)關(guān)損耗。在本文中,我們將通過(guò)雙脈沖測試來(lái)確認驅動(dòng)器源極引腳的效果。


?具備驅動(dòng)器源極引腳,可以大大降低導通損耗和關(guān)斷損耗。

?如果ID導通峰值或VDS關(guān)斷浪涌因開(kāi)關(guān)速度提升而增加,就需要采取對策。


在上一篇文章中,我們通過(guò)工作原理和公式了解了有無(wú)驅動(dòng)器源極引腳的差異和效果。有驅動(dòng)器源極引腳的MOSFET可以消除源極引腳的電感帶來(lái)的影響,從而可降低開(kāi)關(guān)損耗。在本文中,我們將通過(guò)雙脈沖測試來(lái)確認驅動(dòng)器源極引腳的效果。


驅動(dòng)器源極引腳的效果:雙脈沖測試比較


為了比較沒(méi)有驅動(dòng)器源極引腳的MOSFET和有驅動(dòng)源極引腳的MOSFET的實(shí)際開(kāi)關(guān)工作情況,我們按照右圖所示的電路圖進(jìn)行了雙脈沖測試,在測試中,使低邊(LS)的MOSFET執行開(kāi)關(guān)動(dòng)作。


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高邊(HS)MOSFET則通過(guò)RG_EXT連接柵極引腳和源極引腳或驅動(dòng)器源極引腳,并且僅用于體二極管的換流工作。在電路圖中,實(shí)線(xiàn)是連接到源極引腳的示意圖,虛線(xiàn)是連接到驅動(dòng)器源極引腳的示意圖。


我們來(lái)分別比較導通時(shí)和關(guān)斷時(shí)的漏-源電壓VDS和漏極電流ID的波形以及開(kāi)關(guān)損耗。測試中使用的是最大額定值(VDSS的波形以及開(kāi)關(guān)損耗。測試中使用的是最大額定值(RDS(on))為 40mΩ的SiC MOSFET。TO-247N封裝的產(chǎn)品(型號:SCT3040KL)沒(méi)有驅動(dòng)器源極引腳,TO-247-4L(SCT3040KR)和TO-263-7L(SCT3040KW7)有驅動(dòng)器源極引腳。這是在RG_EXT為10Ω、施加電壓VHVDC為800V、ID為50A左右的驅動(dòng)條件下的波形。


與沒(méi)有驅動(dòng)器源極引腳的TO-247N封裝產(chǎn)品(淺藍色虛線(xiàn))相比,有驅動(dòng)器源極引腳的TO-247-4L封裝產(chǎn)品(紅色虛線(xiàn))和TO-263-7L封裝產(chǎn)品(綠色虛線(xiàn))導通時(shí)的ID上升速度更快。通過(guò)比較,可以看出TO-247N封裝產(chǎn)品(淺藍色線(xiàn))的開(kāi)關(guān)損耗為 2742μJ,而TO-247-4L封裝產(chǎn)品(紅色線(xiàn))為1690μJ,開(kāi)關(guān)損耗減少約38%;TO-263-7L封裝產(chǎn)品(綠線(xiàn))為 2083μJ,開(kāi)關(guān)損耗減少24%,減幅顯著(zhù)。


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通過(guò)導通波形可以確認,TO-247-4L的ID峰值達到了80A,比TO-247N大23A。這是因為,盡管在MOSFET的開(kāi)關(guān)工作過(guò)程中對COSS的充放電能量是恒定的,但由于驅動(dòng)器源極引腳可提高開(kāi)關(guān)速度,所以充放電時(shí)間縮短,最終導致充電電流的峰值變大。雖然HS側MOSFET的誤啟動(dòng)也會(huì )導致峰值電流增加,但這不是誤啟動(dòng)造成的。


TO-263-7L的ID峰值為60A,不如TO-247-4L的大。這是由于換流側MOSFET(HS)的封裝電感不同造成的,與后續會(huì )介紹的關(guān)斷浪涌的差異成因一樣。也就是說(shuō),由dID/dt產(chǎn)生的開(kāi)關(guān)側(LS)和換流側MOSFET的總封裝電感引起的電動(dòng)勢,會(huì )將開(kāi)關(guān)側MOSFET的VDS壓低,并使開(kāi)關(guān)側MOSFET的COSS中積蓄的能量被釋放,但TO-263-7L的放電電流很小,導通時(shí)的ID峰值也很小。


此外,導通時(shí)的開(kāi)關(guān)損耗EON也是由于相同的原因,TO-247-4L封裝產(chǎn)品的開(kāi)關(guān)側MOSFET的VDS被壓低,最終使開(kāi)關(guān)損耗EON降低。


但是,如果TO-247-4L和TO-263-7L沒(méi)有采取誤啟動(dòng)對策,發(fā)生誤啟動(dòng)時(shí)導通電流的峰值可能會(huì )進(jìn)一步增加,因此建議務(wù)必采取誤啟動(dòng)對策,比如在米勒鉗位電路或柵極-源極之間連接幾nF的電容。如果希望進(jìn)一步了解詳細信息,請參考應用指南中的“SiC-MOSFET 柵極-源極電壓的浪涌抑制方法”。


接下來(lái)是關(guān)斷時(shí)的波形??梢钥闯?,TO-247N封裝產(chǎn)品(淺藍色實(shí)線(xiàn))的開(kāi)關(guān)損耗為2093μJ,TO-247-4L封裝產(chǎn)品(紅色實(shí)線(xiàn))為1462μJ,開(kāi)關(guān)損耗降低約30%,TO-263-7L封裝產(chǎn)品(綠色實(shí)線(xiàn))為1488μJ,開(kāi)關(guān)損耗降低約29%,即使降幅沒(méi)有導通時(shí)那么大,也已經(jīng)是很大的改善。


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關(guān)斷時(shí)在VDS中觀(guān)測到的關(guān)斷浪涌的主要起因是主電路的總寄生電感。它是前面給出的雙脈沖測試電路中的布線(xiàn)電感LMAIN與開(kāi)關(guān)側和換流側MOSFET的封裝電感(LDRAIN+LSOURCE)的合計值。因此,對于封裝電感幾乎相同的TO-247-4L(紅色實(shí)線(xiàn))和TO-247N(淺藍色實(shí)線(xiàn))而言,浪涌會(huì )隨著(zhù)dID/dt速度的升高而增加。在該測試中,TO-247-4L為1009V,比TO-247N的890V大119V,因此可能需要采取緩沖電路等浪涌對策。


同為帶有驅動(dòng)器源極引腳的產(chǎn)品,TO-263-7L(綠色實(shí)線(xiàn))的浪涌比TO-247-4L(紅色實(shí)線(xiàn))小,是因為封裝結構不同。TO-263-7L的漏極被分配到封裝背面的散熱片,并被直接焊接在PCB上。另外,由于源極引腳被分配給7個(gè)引腳中的5個(gè)引腳,因此封裝電感小于TO-247-4L。請注意,開(kāi)關(guān)側的浪涌會(huì )隨著(zhù)換流側(而非開(kāi)關(guān)側)封裝電感的減小而變小。


關(guān)于開(kāi)關(guān)損耗的比較信息匯總如下:


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條件:VDS=800V、ID=50A、RG_EXT=10Ω



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