【導讀】集成電路型號很多，內部電路千變萬(wàn)化，故檢測集成電路的好壞較為復雜。下面介紹一些常用的集成電路的好壞檢測方法。
集成電路型號很多，內部電路千變萬(wàn)化，故檢測集成電路的好壞較為復雜。下面介紹一些常用的集成電路的好壞檢測方法。
開(kāi)路測量電阻法
開(kāi)路測量電阻法是指在集成電路未與其他電路連接時(shí)，通過(guò)測量集成電路各個(gè)引腳與接地引腳之間的電阻來(lái)判別好壞的方法。
集成電路都有一個(gè)接地引腳（GND），其他各個(gè)引腳與接地引腳之間都有一定的電阻，由于同型號的集成電路內部電路相同，因此同型號的正常集成電路的各個(gè)引腳與接地引腳之間的電阻均是相同的。根據這一點(diǎn)，可使用開(kāi)路測量電阻的方法來(lái)判別集成電路的好壞。
在檢測時(shí)，萬(wàn)用表?yè)苤罵×100擋，紅表筆固定接被測集成電路的接地引腳，黑表筆依次接其他各個(gè)引腳，如圖16—4所示，測出并記下各個(gè)引腳與接地引腳之間的電阻，然后用同樣的方法測出同型號的正常集成電路的各個(gè)引腳對地電阻，再將兩個(gè)集成電路各引腳對地電阻一一對照，如果兩者完全相同，則被測集成電路正常，如果有引腳電阻 差距很大，則被測集成電路損壞。在測量各個(gè)引腳電阻時(shí)萬(wàn)用表選用同一擋位，如果因某個(gè)引腳電阻 過(guò)大或過(guò)小難以觀(guān)察而需要更換擋位時(shí)，則測量正常集成電路的該引腳電阻時(shí)也要換到該擋位。這是因為集成電路內部大部分是半導體元件，不同的歐姆擋提供的電流不同，對于同一個(gè)引腳，使用不同歐姆擋測量時(shí)內部元件導通程度有所不同，故不同的歐姆擋測LM324N 同一個(gè)引腳得到的阻值可能有一定的差距。
采用開(kāi)路測量電阻法判別集成電路的好壞比較容易，并且對大多數集成電路都適用，其缺點(diǎn)是檢測時(shí)需要找一個(gè)同型號的正常集成電路作為對照，解決這個(gè)問(wèn)題的方法是平時(shí)多積累測量一些常用集 成電路的開(kāi)路電阻的數據，以便以后檢測同型號集成電路時(shí)作為參考，另外也可查閱一些資料來(lái)獲得這方面的數據。圖16—5所示是一種常用的內部有4個(gè)運算放大器的集成電路LM324，表16—1中列出了其開(kāi)路電阻數據，測量使用數字萬(wàn)用表的200k2擋，
表中有兩組數據，一組為紅表筆接11腳（接地腳）、 黑表筆接其他各個(gè)引腳測得的數據，另一組為黑表筆接11腳、紅表筆接其他各個(gè)引腳測得的數據，在檢 測LM324的好壞時(shí)，也應使用數字萬(wàn)用表的200k輸出輸出3 擋，再將實(shí)測的各個(gè)引腳數據與表中數據進(jìn)行對照。
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