【導讀】電解電容器是指在鋁、鉭、鈮、鈦等金屬的表面采用陽(yáng)極氧化法生成一薄層氧化物作為電介質(zhì)，以電解質(zhì)作為陰極而構成的電容器。
電解電容器是指在鋁、鉭、鈮、鈦等金屬的表面采用陽(yáng)極氧化法生成一薄層氧化物作為電介質(zhì)，以電解質(zhì)作為陰極而構成的電容器。本文主要介紹了電解電容器的漏電阻測量方法及過(guò)程詳解和注意的事項。
電解電容器的用途：
1．隔直流：作用是阻止直流通過(guò)而讓交流通過(guò)。
2．旁路（去耦）：為交流電路中某些并聯(lián)的元件提供低阻抗通路。
3．耦合：作為兩個(gè)電路之間的連接，允許交流信號通過(guò)并傳輸到下一級電路
4．濾波：這個(gè)對DIY而言很重要，顯卡上的電容基本都是這個(gè)作用。
5．溫度補償：針對其它元件對溫度的適應性不夠帶來(lái)的影響，而進(jìn)行補償，改善電路的穩定性。
6．計時(shí)：電容器與電阻器配合使用，確定電路的時(shí)間常數，時(shí)間常數t=RC。
7．調諧：對與頻率相關(guān)的電路進(jìn)行系統調諧，比如手機、收音機、電視機。
8．整流：在預定的時(shí)間開(kāi)或者關(guān)半閉導體開(kāi)關(guān)元件。
9．儲能：儲存電能，用于必須要的時(shí)候釋放。例如相機閃光燈，加熱設備等等。
電解電容器的工作電壓為4V、6.3V、10V、16V、25V、35V、50V、63V、80V、100V、160V、200V、300V、400V、450V、500V，工作溫度為-55°~+155℃（4~500V）、，特點(diǎn)是容量大、體積大、有極性，一般用于直流電路中作濾波、整流。目前最常用的電解電容器有鋁電解電容器和鉭電解電容器。
查找找損壞的電解電容方法：
（1）看：有的電容損壞時(shí)會(huì )漏液，電容下面的電路板表面甚至電容外表都會(huì )有一層油漬，這種電容絕對不能再用；有的電容損壞后會(huì )鼓起，這種電容也不能繼續使用；
（2）摸：開(kāi)機后有些漏電嚴重的電解電容會(huì )發(fā)熱，用手指觸摸時(shí)甚至會(huì )燙手，這種電容必須更換；
（3）電解電容內部有電解液，長(cháng)時(shí)間烘烤會(huì )使電解液變干，導致電容量減小，所以要重點(diǎn)檢查散熱片及大功率元器件附近的電容，離其越近，損壞的可能性就越大。
電解電容器的漏電阻測量方法：
1、選擇萬(wàn)用表的合適量程，將紅表筆接電解電容的負極，黑表筆接電解電容的正極，此時(shí)，表針向R為零的方向擺動(dòng)，擺到一定幅度后，又反向向元窮大方向擺動(dòng)，直到某一位置停下，此時(shí)指針所指的阻值便是電解電容器的正向漏電電阻，正向漏電電阻越大，說(shuō)明電容器的性能越好，漏電流也越小。將萬(wàn)用表的紅、黑表筆對調 （紅表筆接正極，黑表筆接負極），再進(jìn)行測量，此時(shí)指針所指的阻值為電容器的反向漏電電阻，此值應比正向漏電電阻小些。如測得的兩漏電電阻值很小 （幾百千歐以下），則表明電解電容器的性能不良，不能使用。檢測電解電容器的方法如圖1所示。
圖1電解電容器的檢測
因為電解電容的容量較一般固定電容大得多，所以，測量時(shí)，應針對不同容量選用合適的量程。根據經(jīng)驗，一般情況下，1～47μF間的電容，可用R& mes;1k擋測量，大于47μF的電容可用R& mes;100擋測量。
對于正、負極標志不明的電解電容器，可利用上述測量漏電阻的方法加以判別。即先任意測一下漏電阻，記住其大小，然后交換表筆再測出一個(gè)阻值。兩次測量中阻值大的那一次便是正向接法，即黑表筆接的是正極，紅表筆接的是負極。
（a）測量正向漏電阻;（b）測量反向漏電阻
2、電解電容器正、負電極的判別 電解電容器的正、負電極的判別方法主要是根據上列所述測量漏電電阻的方法。用萬(wàn)用表的歐姆擋，根據電解電容器的容量選好合適的量程，用兩表筆接電容器的兩引腳測其漏電電阻，并記下這個(gè)阻值的大小，然后將兩表筆對調再測一次漏電電阻值，將兩次測量的漏電電阻值對比，漏電電阻值小的一次，黑表筆所接觸的是電解電容器的負極。
用萬(wàn)用表對電容器進(jìn)行檢測時(shí)應注意以下三點(diǎn)：
①不論對電容器進(jìn)行漏電電阻的測量，還是短路、斷路的測量，在測量過(guò)程中要注意手不能同時(shí)碰觸兩根引線(xiàn)。
②由于電容器在測量過(guò)程中要有充、放電的過(guò)程，故當第一次測量后，必須要先放電（用萬(wàn)用表表筆將電容器兩引線(xiàn)短路一下即可），然后才可進(jìn)行第二次測量。
③對在路電容器進(jìn)行檢測時(shí)，必須弄清所在電路的其他元器件是否影響測量結果，一般情況下應盡量不采用在路測量。
