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高容量MLCC測不準?原來(lái)你忽略了這六個(gè)因素

發(fā)布時(shí)間:2018-04-28 來(lái)源:winniewei 責任編輯:lina

【導讀】作為一個(gè)技術(shù)支持工程師,每天遇到客戶(hù)不同的技術(shù)問(wèn)題,其中有些客戶(hù)測量高容量MLCC時(shí),往往未能獲得規格書(shū)上列明的標稱(chēng)電容量,直覺(jué)是壞料或是買(mǎi)錯貨。再三仔細查問(wèn)他們的測量過(guò)程時(shí),原來(lái)忽略了這些……


 
No.1 頻率和電壓
 
I類(lèi)和II類(lèi)MLCC電容的實(shí)際測量頻率和電壓各有不同。如I類(lèi)MLCC產(chǎn)品,以KemetC0402C330J3GACTU為例,它的測量頻率為1MHz±10%,測量交流電壓為1.0±0.2Vrms。II類(lèi)MLCC產(chǎn)品,如Samsung CL03A225MP3CRNC,它的測量測量頻率為1KHz±10%,測量交流電壓為 0.5 ± 0.1Vrms。      
 
*請參閱有關(guān)電容器在網(wǎng)站上的規格
 
表一,I類(lèi)和II類(lèi)MLCC的測量頻率和電壓
 
No.2 工作溫度
 
我們常常見(jiàn)到不同的MLCC有不同的TCC系數(電容溫度系數/Temperature Coefficient of Capacitance)。TCC是指在特定的溫度內,溫度每變化1℃時(shí),電容的變化數值與該溫度下的電容變化的比值。
 
  
圖一,I類(lèi)和II類(lèi)MLCC的溫度特性和隨溫度的電容變化
 
I類(lèi)MLCC有較穩定的TCC表現,你會(huì )發(fā)現它的電容量隨溫度呈線(xiàn)性變化,但II類(lèi)MLCC的電容器是隨溫度呈不規則變化,這是由于鈦酸鋇(BaTiO 3)的介電材料的性質(zhì)。所以我們測量MLCC時(shí)必須在指定的工作溫度下進(jìn)行。
 
No.3 直流偏置
 
直流偏置是影響MLCC電容的重要電參數,特別是直流偏置會(huì )使II類(lèi)MLCC電容隨著(zhù)直流電壓增加而損耗。II類(lèi)MLCC基于具有鐵電偶極子的BaTiO3,直流偏置會(huì )限制偶極運動(dòng),導致II類(lèi)MLCC介電常數和電容的降低。盡管I類(lèi)MLCC的介電常數比X5R,X7R和Y5V低, 但它電容量受直流電壓影響是比較穩定的。 Y5V介電常數最高,但有很?chē)乐氐睦匣?br />  
圖二,直流偏置對MLCC影響
 
No.4 交流電壓
 
由于I類(lèi)MLCC以順電材料組成,它的電容不會(huì )因交流電壓轉變而變化,但II類(lèi)MLCC電容是隨著(zhù)交流電壓的增加而變化。在II類(lèi)MLCC中,Y5V顯示交流電壓的變化比X5R/X7R更嚴重,這是由于鐵電材料的電壓對極化曲線(xiàn)的非線(xiàn)性特性。
 
圖三,10uF X7R 6.3V的電容量在不同交流電壓的轉變
 
請注意,如果過(guò)多電壓施加到電容器上,有可能導致由內部電介質(zhì)層的斷裂而引起的短路。這持續施加過(guò)多電壓直到斷裂的時(shí)間性,是取決于電壓多少和環(huán)境溫度。

No.5 放置時(shí)間
 
II類(lèi)MLCC的電容量隨室溫中長(cháng)時(shí)間放置呈對數關(guān)系減少,但I類(lèi)MLCC由順電性質(zhì)的材料組成而不會(huì )有老化現象。老化本質(zhì)上是可逆的,但元件的老化是不能阻止的。在MLCC的試驗性能前,我們需要進(jìn)行熱處理。即通過(guò)在居里點(diǎn)以上加熱(150℃至少1小時(shí))并冷卻至室溫,將MLCC晶體結構恢復到其最佳的無(wú)序排列,從而實(shí)現最大電容量。
 
圖四            不同電容的老化特性

No.6 合適的LCR測試儀
 
市場(chǎng)上大部份LCR測試儀操作簡(jiǎn)便,功能直接,能滿(mǎn)足我們工程師對元件的檢驗和電子維修測試要求。但當測試高容量MLCC時(shí),推薦選用具有ALC(自動(dòng)電平控制/Automatic Level Control)功能的LCR測試儀。ALC是針對由于元件本身變化,環(huán)境引起工作點(diǎn)變化等,在測試電路中加入的穩定電平的電路,從而自動(dòng)糾正偏移的電平回到要求的數值。B&K Precision895就是其中一款具有ALC功能的LCR測試儀。
 
  
圖五,B&K Precision 895和它的測量設置菜單
 
通過(guò)ALC功能,您可以保持施加到被測的MLCC的測量信號到恒定電壓水平。但如果沒(méi)有打開(kāi)ALC功能,很大可能會(huì )導致高容量MLCC讀數被錯誤讀低。
 
最后的結論
 
綜上所述,大家在測試高容量MLCC性能時(shí),請特別留意以下三點(diǎn)。
 
1)在測量前進(jìn)行熱處理
 
2)按照數據手冊上的指定工作溫度,電壓和頻率進(jìn)行測試
 
3)推薦使用帶有ALC功能的測試設備進(jìn)行測試


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