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平衡電子設備的靜電防護和信號完整

發(fā)布時(shí)間:2012-08-08

導言:如今,電子裝置有三大發(fā)展趨勢:采用較小的幾何尺寸,減少片上防護和適應不斷變化的應用環(huán)境,這也導致靜電(ESD)防護有了顯著(zhù)地變化。在確??煽康腅SD防護條件下,保證高信號完整性的復雜度增加,這就迫使設計者在ESD防護和所期望的信號完整性之間進(jìn)行平衡。

現今,專(zhuān)業(yè)集成電路(ASICs)的制造工藝使幾何尺寸已經(jīng)減少到90nm或更小,因此引發(fā)ESD相關(guān)故障的電壓或電流值也已減小。簡(jiǎn)單地說(shuō),那些更小的裝置將會(huì )受到更小的電平電壓或電流的損害。而減少片上ESD防護是增加ESD損害的一個(gè)因素,這種困境已被ESD目標規范產(chǎn)業(yè)委員會(huì )廣泛地宣傳。

確定哪種ESD防護裝置能提供最好的防護不是一件容易的事情。今天已有各種ESD防護裝置,通常人們把它們分為三個(gè)大類(lèi):

聚合物裝置似乎對高頻應用具有吸引力的,因為它們的亞微微法拉電容是0.05-1.0pF,但是這個(gè)低電容帶來(lái)一些不怎么引人注目的副作用。直到達到比箝位電壓高得多的觸發(fā)電壓之下一代電子設備的ESD防護和信號完整性前,一個(gè)聚合物裝置不會(huì )擊穿。聚合體的高觸發(fā)電壓和箝位電壓使得聚合物裝置對于ESD防護是不可靠的。除此之外,在電荷放電后,聚合體應該回到它的高阻抗狀態(tài),但是這個(gè)恢復過(guò)程需要幾個(gè)小時(shí)到一天,這個(gè)時(shí)間過(guò)程使得聚合物裝置對電纜一接入就要其發(fā)揮作用的應用場(chǎng)合缺乏吸引力。最后,聚合體在應用中無(wú)法接受的另一個(gè)特性是:其性能在使用過(guò)程中會(huì )降低。

可變器和抑制器相對廉價(jià),但是抑制器應用主要受到高觸發(fā)電壓、高箝位電壓和高阻抗特性的限制,這些特性導致傳到保護裝置的能量大部分都分流到地上去了。抑制器的另外一個(gè)缺陷是其性能在使用過(guò)程中會(huì )降低。經(jīng)過(guò)單次ESD沖擊后就能觀(guān)察到其電信能發(fā)生了變化,包括電容變化。大多數抑制器在10到20次ESD沖擊后失效。

半導體二極管器件具有低箝位電壓,低阻抗,快速響應時(shí)間和較高的可靠性的特點(diǎn)。二極管傳統上相對其他解決方案還具有較高電容的特點(diǎn),但是新的低于微微法拉設計,使它們成為穩定的ESD防護和信號完整性的最具吸引力的組合。


通常,設備賣(mài)主在比較ESD保護裝置的ESD標定情況時(shí),提供了數據表格。事實(shí)上,這些標定值不能真實(shí)地反映裝置能多好地保護設備。舉例來(lái)說(shuō),當數據表格給裝置X的標定值是8 kV,給裝置Y的標定值是15 kV的時(shí)候,由此能不能判斷裝置Y比較好呢?保護器的ESD標定值只表明保護器本身能承受的負荷并非是設備能承受的。在許多情況,8-kV的裝置可能提供的保護比一個(gè)15-kV要好。除了保護裝置的ESD標定值,電壓值(箝位電壓)之外,沖擊ASIC的涌流(剩余電流)值也是需要重點(diǎn)考慮的。

比較的出發(fā)點(diǎn):箝位電壓

當代的工業(yè)實(shí)踐要求發(fā)布箝位電壓,它是基于一個(gè)具有8μs上升時(shí)間和20μs持續時(shí)間的脈沖。大多數資料表明箝位電壓使用1-A脈沖,有時(shí)也采用更高電流的脈沖。有一點(diǎn)特別值得注意,這個(gè)脈沖不等價(jià)于具有1ns上升時(shí)間和60ns持續時(shí)間的ESD脈沖。另外在IEC 61000-4-2規定的等級4,其峰值電流為30A的脈沖沖擊下測量的箝位電壓,與電流為1-A的脈沖沖擊下測得的箝位電壓值有顯著(zhù)差別。因為箝位電壓時(shí)通常是從資料表看到的可用的數據信息,所以當比較不同的ESD保護裝置時(shí),它提供了一個(gè)好的參考值。

一般,半導體二極管有最低的箝位電壓峰值,而其抑制器和聚合體有相對較高的箝位電壓峰值。采用上面描述的1-A脈沖標準,大多數的半導體ESD防護二極管額定箝位電壓介于8到15伏特之間。當按IEC 61000-4-2的8千伏標準時(shí),這些二極管顯現的典型箝位電壓峰值是50到100伏,這一現象還依賴(lài)于二極管的其他特性,如動(dòng)態(tài)阻抗。相比之下,抑制器的箝位電壓能高出若干倍。典型的低電容抑制器具有的箝位電壓值變化范圍從150到500伏特。同時(shí),由于“觸發(fā)”電壓要求高達500伏特,聚合體的使用受到它們的高箝位電壓特性的限制。高觸發(fā)要求減慢了聚合體的響應時(shí)間,這增加了對被保護裝置產(chǎn)生危害的可能性??傮w而言,因為它們的較低箝位電壓和較快速的啟動(dòng)時(shí)間,半導體二極管比聚合體或抑制器能提供更好的ESD防護。

下一頁(yè):有效的ESD防護電路圖
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剩余電流和動(dòng)態(tài)阻抗

流經(jīng)ASIC的電流量依賴(lài)于整個(gè)保護電路的動(dòng)態(tài)阻抗與ASIC和其余電路的動(dòng)態(tài)阻抗的比。隨著(zhù)保護電路阻抗的增加,其流經(jīng)被保護電路的電流量也相應增加,也相應地增加了對ASIC產(chǎn)生ESD損害的可能性。相反地,隨著(zhù)ASIC的動(dòng)態(tài)阻抗增大,流經(jīng)ASIC的剩余電流將會(huì )增加。因為剩余電流是與系統相關(guān)聯(lián)的,這一值不專(zhuān)門(mén)在ESD防護資料表中列出。遺憾地是,很少有ESD保護廠(chǎng)商會(huì )標明他們生產(chǎn)產(chǎn)品的動(dòng)態(tài)阻抗,但是有近似估算剩余電流和動(dòng)態(tài)阻抗值的技術(shù)方法。

大多數的二極管廠(chǎng)商提供電流與電壓的關(guān)系曲線(xiàn)圖。雖然這些曲線(xiàn)圖通常使用8/20 μs脈沖而非IEC 61000-4-2 準規定的脈沖,但是他們可用作電路阻抗的一般指標。對于8/20μs脈沖,電流和電壓關(guān)系曲線(xiàn)完全是線(xiàn)性的,而且直線(xiàn)的斜率就是動(dòng)態(tài)電阻值(Rdyn)。典型的ESD二極管動(dòng)態(tài)電阻值(Rdyn)的變化范圍從低于一個(gè)歐姆到三個(gè)歐姆。聚合體也有非常低的電阻。
   
另一方面,用于高速輸入/輸出端口的低電容抑制器具有很高的動(dòng)態(tài)電阻,其變化范圍是20歐姆或者更高值,這導致了被保護的ASIC電流值相對較高。事實(shí)上抑制器和變阻器從“被保護”的ASIC分流了很少的電流。因此上大部份的電流實(shí)際上傳到了ASIC。顯然,這一個(gè)特性使得他們很少被選用作ESD防護。

確保ESD防護的可靠性在傳統的ESD防護技術(shù)中,雖然半導體二極管提供了最好的ESD保護,但它們不能夠保護當前采用的亞微米幾何尺寸制造的最新ASICs。通過(guò)采用傳統手段進(jìn)一步的減少這些裝置的箝位電壓和動(dòng)態(tài)電阻則意味著(zhù)增加電容量-這在高速應用中是個(gè)無(wú)法接受的取舍。一種新的ESD防護基本方法是利用新型雙箝位結構,這種結構與電感、電阻一起集成了兩級低電容二極管連同電感和一個(gè)電阻器,通過(guò)這種方式能在保持信號完整性的同時(shí),顯著(zhù)地減少剩余電流、箝位電壓并提供有效地ESD保護,如下圖:
ESD防護電路圖

ESD防護電路圖

當ESD沖擊發(fā)生時(shí),電路結構中的第一級開(kāi)始抑制,分流大部份的電流并減小電壓。剩余電流經(jīng)過(guò)一個(gè)電阻后,沖擊第二級電路,這將進(jìn)一步減小電壓,最終使流到ASIC的電流最小。

這種電路結構能為高速USB,高清多媒體和個(gè)人計算機設計提供ESD保護。通過(guò)片上匹配、減小偏差和EMI并改進(jìn)由于集總電感引起的TDR(時(shí)域反射計效應),信號完整性得到改進(jìn)。
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