【導讀】FA/RMA工程師需要在嚴苛的客戶(hù)投訴、產(chǎn)線(xiàn)運轉時(shí)間中，能夠有足夠的手段以及盡可能低的學(xué)習成本，快速驗證諸如PCIe高速總線(xiàn)的故障，從而能夠更快更好的給RD提出有效的反饋，甚至能夠推動(dòng)RD優(yōu)化設計，確保團隊能夠得到持續的正向發(fā)展和評價(jià)。
在服務(wù)器、PC等電子設備主板的生產(chǎn)中，往往會(huì )出現產(chǎn)線(xiàn)的故障，需要失效分析工程師（FA）以及維修工程師（RMA）去快速定位生產(chǎn)過(guò)程當中的故障件，特別是一些高速信號的故障。在整個(gè)過(guò)程中，往往需要面臨很多的壓力和責任，比如：
客戶(hù)投訴需要及時(shí)反饋
不良風(fēng)險點(diǎn)的識別和內部分析
不斷完善設計檢查表，推動(dòng) RD 優(yōu)化設計
指導生產(chǎn)制程改善
團隊的能力需要持續提升
高速信號的特殊性
但是要應對這些壓力，往往也對工程師提出了很高的要求。目前來(lái)看FA/RMA工程師由于工作性質(zhì)問(wèn)題，要去應對上面的挑戰往往也很棘手，特別是高速信號相關(guān)的故障，而且由于高速信號的特殊性，這類(lèi)信號也容易出問(wèn)題，其中PCIe信號是其中的典型。
主要原因：
高速信號帶寬高、速率快、信號冗余度也因此變??；
PCIe 信號是高速信號互聯(lián)的關(guān)鍵；
PCIe 互聯(lián)的接口總類(lèi)多；
缺少測試手段，往往只有低端示波器以及萬(wàn)用表，無(wú)法用于高速信號問(wèn)題排查；
缺乏系統的信號完整性知識，往往依賴(lài)于產(chǎn)品研發(fā)；
因此FA/RMA工程師需要在嚴苛的客戶(hù)投訴、產(chǎn)線(xiàn)運轉時(shí)間中，能夠有足夠的手段以及盡可能低的學(xué)習成本，快速驗證諸如PCIe高速總線(xiàn)的故障，從而能夠更快更好的給RD提出有效的反饋，甚至能夠推動(dòng)RD優(yōu)化設計，確保團隊能夠得到持續的正向發(fā)展和評價(jià)。
圖1. 泰克新一代TMT4 PCIe性能綜合測試儀
新一代TMT4 PCIe性能綜合測試儀
針對上面提到的FA/RMA工程師所遇到的挑戰，泰克推出了新一代的TMT4 PCIe性能綜合測試儀。
圖 2. 豐富的硬件接口形式，應對各種產(chǎn)品形態(tài)
這臺儀器集成了豐富、便捷的功能，直達PCIe 信號鏈路、物理層細節信息，直觀(guān)的圖示有利于工程師學(xué)習和掌握：
支持PCIe Gen3/4信號的一鍵式掃描功能，同時(shí)掃描所有鏈路的發(fā)射和接收性能。
支持多種多樣的硬件接口，如CEM、M.2、U.2、U.3等等，適配各種信號連接。
速度飛快，掃描所有16條PCIe Gen4總線(xiàn)鏈路只需要1-2分鐘。
一學(xué)就會(huì )，無(wú)需學(xué)習成本，通過(guò)網(wǎng)頁(yè)訪(fǎng)問(wèn)，只需要一兩個(gè)按鍵操作就能完成測試。
提供專(zhuān)業(yè)報告，方便與RD一起進(jìn)行問(wèn)題分析與定位。
圖3. 專(zhuān)業(yè)級的PCIe物理層Tx/Rx分析
通過(guò)TMT4 PCIe性能綜合測試儀，整個(gè)FA/RMA工程師團隊可以在短短1-2分鐘內提交全面的PCIe鏈路的發(fā)射機和接收機的測試結果，從而能夠給出專(zhuān)家級的分析報告；因此也能夠幫助工程師更快的對客戶(hù)投訴做出反饋，以及幫助工程師快速確定問(wèn)題所在，確保產(chǎn)線(xiàn)正常運轉，最大程度提升工程師價(jià)值以及降低產(chǎn)線(xiàn)成本。
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