【導讀】薄膜電阻在使用過(guò)程中，隨著(zhù)工作時(shí)間的增加，電阻的阻值會(huì )發(fā)生飄移，進(jìn)而對整個(gè)電路系統的性能造成影響。為了能夠確定電子產(chǎn)品在整個(gè)生命周期中的公差，有時(shí)希望對“最壞情況下” 薄膜電阻阻值的飄移變化程度有一個(gè)準確的估算。我們今天就為大家分享一個(gè)快速而準確的計算方法。
如何根據薄膜的運行時(shí)間，來(lái)計算或估算最壞情形下薄膜電阻值的飄移變化？
可以使用阿倫尼烏斯方程（Arrhenius equation）來(lái)估算電阻器的漂移（老化）。例如，你可以在 Vishay 的 TNPW e3 數據表的第 2 頁(yè)上，找到“額定耗散下的最大電阻變化”表。
如上圖所示，阻值的最大改變百分比會(huì )因不同的工作模式而變化。
使用下面給出的阿倫尼烏斯方程式，客戶(hù)可以根據數據表中所示的指定電阻變化來(lái)估算電阻漂移：
我們舉一個(gè)例子來(lái)說(shuō)明————假設在應用中運行了 15,000 小時(shí)，則可以按如下所述估算漂移：
數據表中的參數（標準工作模式）如下所示————要求在 P70 下運行 15,000 小時(shí)，因此在 70°C 的環(huán)境溫度下為滿(mǎn)負荷：
對于電阻值漂移的估算如下：
如果客戶(hù)希望采用最壞情況下的阻值變化率來(lái)計算終端產(chǎn)品的生命周期公差，則可以將其設計中可能發(fā)生的所有變化相加在一起——即使實(shí)際的電阻變化可能較低。
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