圖 38. 使用低噪聲接收機測量噪聲系數和電子校準件校準常規 S 參數的矢量噪聲校準步驟

 

為了確定接收機的噪聲參數，在 S 參數測試中用到的電子校準件也可以作為阻抗調諧器使用，用于測量在不同源阻抗條件下接收機的噪聲功率。因為在這個(gè)電子校準件和噪聲接收機之間的損耗比較小，它被當成接收機的源牽引 (而不是用作阻抗調諧器) 來(lái)使用，這樣可以產(chǎn)生比較高的反射系數，并且更好地對噪聲參數進(jìn)行表征。

 

圖 39 顯示了用低噪聲接收機測量矢量校準放大器、同時(shí)用機械校準套件測量 S 參數部分的校準步驟。這個(gè)過(guò)程和前一幅圖中所描述的情形相類(lèi)似，這里主要的差別是接收機噪聲功率與源匹配的關(guān)系是在第二步 (把電子校準件配置成調諧器) 和第三步 (使用機械校準件的開(kāi)路，短路和負載件) 中測量的。在接收機噪聲功率的測量結果中增加機械標準件的數據，可以給出更多的數據，從而獲得更高測量精度的 "超定" 測量辦法。

 

圖 39. 使用低噪聲接收機測量噪聲系數和機械標準件校準常規 S 參數的矢量噪聲校準步驟

 

標準接收機的噪聲校準

 

當使用標準接收機而不是低噪聲接收機測量噪聲系數時(shí)，校準過(guò)程會(huì )有兩個(gè)改變。第一個(gè)改變是不需要使用噪聲源來(lái)表征由接收機所產(chǎn)生的噪聲。當表征低噪聲接收機時(shí)，使用一個(gè)噪聲源可以提供接收機的增益-帶寬值，這是在計算噪聲功率所帶來(lái)的額外噪聲時(shí)所必須知道的數據。但是當接收機的噪聲系數比噪聲源所產(chǎn)生的噪聲大得多時(shí)——使用網(wǎng)絡(luò )分析儀的標準接收機測量噪聲系數就是這種情況，這種方法就行不通了。這個(gè)問(wèn)題可以通過(guò)把接收機的增益和帶寬分開(kāi)測量來(lái)解決，然后再用數學(xué)方法計算出增益-帶寬值。在測量增益時(shí)，為了能夠對接收機進(jìn)行校準使之可以精確地測量正弦波信號的功率，需要把一個(gè)功率計當做絕對功率參考使用。通過(guò)窄帶頻率掃描可以確定中頻濾波器的幅度響應，然后再對這個(gè)幅度響應進(jìn)行積分就可以計算接收機的有效噪聲帶寬，也就完成了接收機的噪聲帶寬測量。因為在測量噪聲功率時(shí)使用了零中頻混頻，所以在校準過(guò)程中會(huì )在儀器的顯示屏上出現雙峰值的響應特征，如圖 40 所示。

 

圖 40. 在校準過(guò)程中測量標準接收機的有效噪聲帶寬

 

當使用標準接收機測量噪聲系數時(shí)，校準過(guò)程中的第二個(gè)變化是只需要進(jìn)行一次增益測量即可，因為標準接收機內部的混頻器之前沒(méi)有可切換的放大器。

 

標量噪聲校準技術(shù)

 

當進(jìn)行標量噪聲校準時(shí)，因為經(jīng)過(guò)標量校準的測量是在假設有一個(gè)理想的 50 Ω 源匹配的條件下進(jìn)行，所以對當成阻抗調諧器使用的電子校準件的阻抗狀態(tài)測量就被忽略了。然而，為了在第二級噪聲校正的過(guò)程中可以做得更為精確，用于測量噪聲功率的接收機源牽引測量仍然會(huì )執行。如果是使用電子校準件對 S 參數測量進(jìn)行校準，那么這個(gè)電子校準件也可以用于源牽引測量。如果測量 S 參數使用的是機械校準套件，那么機械校準套件的開(kāi)路標準件、短路標準件和負載標準件也能夠用于源牽引測量。為了求解測量接收機的噪聲參數至少需要知道 4 種阻抗狀態(tài)的測量結果，因此在做直通校準時(shí)也多做了一步測量，把測試系統原始的源匹配當作額外的阻抗標準來(lái)使用。源匹配原始數據的復數值是 S 參數校準數據的一部分。

 

測量變頻器時(shí)的校準

 

當測量變頻器時(shí)，在校準過(guò)程的開(kāi)始階段還要額外增加一步操作，把一個(gè)功率計連接在測試端口 1 上。這一步操作是對激勵源的功率進(jìn)行校準，調節源功率隨頻率的變化。這個(gè)經(jīng)過(guò)校準的功率隨后會(huì )用在對標準接收機的校準上，使之能夠進(jìn)行絕對功率測量，這對于測量變頻器的變頻增益 (或損耗) 是非常必要的。這個(gè)功率校準方法與標量混頻器/變頻器 (SMC) 測量所用的方法相同。

 

晶圓上校準

 

使用低噪聲接收機用矢量校準的方法進(jìn)行晶圓上測量時(shí)，有兩種方法進(jìn)行校準。因為噪聲源的同軸連接器不能連接到晶圓探頭端上，這兩種校準方法都無(wú)法讓噪聲源處在被測器件的測量平面上。在下面的兩個(gè)實(shí)例中，我們會(huì )介紹在校準過(guò)程中如何連接噪聲源；在使用標準接收機和同軸功率計進(jìn)行晶圓上測量，或通過(guò)連接一個(gè)功率計進(jìn)行變頻器測量時(shí)，可以采用同軸校準和晶圓上校準這兩種方法的組合。

 

在圖 41 所示的實(shí)例中，首先通過(guò)一個(gè)陰頭－陰頭 (f-f ) 適配器把噪聲源直接連接到 PNA-X 的測試端口 2 上，在噪聲表征完成之后進(jìn)行第二步操作，在適配器平面上進(jìn)行 1 端口校準，這樣就建立了一個(gè)噪聲校準的基準面。第三步是把 PNA-X 的端口 2 和晶圓探頭用電纜連接起來(lái)，讓陰頭-陰頭適配器保持在原位。在完成了晶圓上雙端口校準之后，使用嵌入算法 (在后面會(huì )提到) 就可以用數學(xué)方法把噪聲校準基準面延伸到雙端口校準平面上。這種校準方法可以把噪聲源和測試端口 2 之間的損耗降至最低，因此可以獲得 PNA-X 內部低噪聲接收機的最佳校準結果。

 

41. 晶圓上噪聲校準。實(shí)例 1: 直接把噪聲源連接到 PNA-X 的前面板上

 

在圖 42 的實(shí)例中，噪聲源連接在用于把晶圓探頭和分析儀相連接的電纜的一端，而不是直接與分析儀的測試端口 2 相連。這種連接方法對于在測量當中擺放 PNA-X 的位置來(lái)說(shuō)是很方便的，特別是在進(jìn)行晶圓上測量時(shí)，PNA-X 通常安裝在測試機架里，放在晶圓探頭臺的后面，這讓用戶(hù)很難接觸到 PNA-X。在這種連接方式中，仍然需要使用一個(gè)陰頭-陰頭適配器把噪聲源與測試系統進(jìn)行連接，并且在完成了噪聲參數表征之后，對陰頭-陰頭適配器進(jìn)行單端口校準，這樣就能建立一個(gè)噪聲校準基準面。與前面實(shí)例中介紹的適配器在完成單端口校準后保留在原位不同，此時(shí)必須要把適配器移除才能把電纜與晶圓探頭相連接。然而，即便是已經(jīng)移除了這個(gè)陰頭-陰頭適配器，嵌入算法仍然能夠把噪聲校準基準面延伸到雙端口校準基準面上。

 

圖 42. 晶圓上噪聲校準。實(shí)例 2: 把噪聲源連接到同軸測試電纜的一端

 

噪聲校準平面的推移

 

為了更好地理解前面兩個(gè)校準方法實(shí)例，特別是為什么在移除陰頭-陰頭適配器的情況下還能夠把噪聲校準平面延伸到晶圓探頭端上，我們在這里探討一下如何把校準平面從一個(gè)平面移到另一個(gè)平面。以圖 43 為例，Cal 1 是在使用陰頭-陰頭適配器 ([TA]) 的條件下進(jìn)行的，Cal 2 是在使用晶圓探頭 ([TB]) 的條件下進(jìn)行的。對 Cal 2 來(lái)說(shuō)，晶圓探頭也是另一種形式的適配器。注意，無(wú)論是哪種情況，測試電纜和 VNA 的特征 [Tsys] 都是一致的，它是測試端口電纜和 VNA 的 T 參數組合。我們在這里使用從 S 參數推導出的 T 參數，因為在計算級聯(lián)網(wǎng)絡(luò )時(shí)能夠非常簡(jiǎn)單。例如，兩個(gè)級聯(lián) T 參數網(wǎng)絡(luò )可以很容易地相乘。

 

為了從校準平面 1 (Cal 1) 推移到校準平面 2 (Cal 2)，我們需要計算一個(gè)虛擬適配器的 T 參數，記為 [T?]。這個(gè)虛擬適配器可以表示為:

 

圖 43. 在適配器之間移動(dòng)校準平面

 

在實(shí)際測量中要考慮的因素

 

環(huán)境溫度設置

 

當設置噪聲系數測量時(shí)，需要知道測試系統的環(huán)境溫度以便計算出正確的輸入噪聲功率。在 "噪聲系數設置" 對話(huà)框 (圖 26) 中輸入的溫度值應表示所有從校準平面到 PNA-X 方向上的元器件的平均溫度，包括在儀器測試端口后面的元器件的溫度。一個(gè)測試開(kāi)始時(shí)非常適用的值就是環(huán)境溫度，通常是 298 K，也可以使用一個(gè)精密溫度計來(lái)測量這個(gè)溫度。雖然電子校準件的內部溫度被加熱到 304 K，但是電子校準件和被測器件之間的損耗一般會(huì )抵消器件溫度超過(guò)環(huán)境溫度所帶來(lái)的影響。儀器工作時(shí)也可能會(huì )產(chǎn)生一些加熱的效果，因此 299 K 或 300 K 是比較準確的估計值。注意，把溫度設為 298 K 和設為 300 K 的區別大概只有 0.7%，這相當于在噪聲系數測量結果中只有 0.03 dB 的差異。

 

在使用噪聲源進(jìn)行校準的過(guò)程中，在校準向導界面上有一個(gè)輸入對話(huà)框，您可以在這里指定噪聲源的實(shí)際溫度。由于噪聲源始終是在加電的狀態(tài)下與 PNA-X 連接，因此它的溫度通常要比環(huán)境溫度高出幾 K。

 

噪聲平均

 

當使用 PNA-X 測量噪聲系數時(shí)，噪聲平均是一個(gè)重要的測量條件。當在測量過(guò)程中不使用噪聲平均時(shí) (等同于把求平均值操作次數設為 1)，為了估算噪聲接收機能夠測量到的平均噪聲功率，在每一次噪聲功率測量中，儀器內部仍然有很多的模數轉換 (ADC) 樣本。ADC 樣本的數量是任意的，PNA-X 在用低噪聲接收機時(shí)大約會(huì )使用 1 萬(wàn)個(gè)樣本。當啟用噪聲平均功能時(shí)，儀器需要處理的數據就是用平均值乘以 ADC 采樣數，這樣通過(guò)降低在測量結果軌跡上的抖動(dòng)來(lái)給出更好的平均噪聲功率估算值，但是代價(jià)是犧牲一定的測量速度。在校準期間我們極為推薦使用噪聲平均功能：使用低噪聲接收機時(shí)把求平均值操作次數設為 10 至 20 次，使用標準接收機時(shí)把操作次數設為 50 至 100 次，這樣可以得到非常純凈的校準結果。在對被測器件進(jìn)行測量時(shí)，可以把噪聲平均操作的次數值設置得略低一些，以便在測量速度和精度之間取得平衡。通常被測器件的增益越高，在測量時(shí)需要做噪聲平均操作的必要性就越低。但是如果在校準過(guò)程中不啟用噪聲平均功能，那么即便是稍后啟用這項功能，也無(wú)法再去除校準期間存在的噪聲。

 

當用標準接收機測量噪聲系數時(shí)，只有兩個(gè)噪聲帶寬可供選擇－720 kHz 和 1.2 MHz，這與使用低噪聲接受機進(jìn)行測量不一樣，后者有 5 種設置可供選擇，頻率覆蓋從 0.8 到 24 MHz 的范圍。噪聲帶寬越小，意味著(zhù)測量結果中會(huì )有越多的抖動(dòng)，這就需要更多的噪聲平均操作。

 

測量一個(gè)直通件的噪聲系數

 

圖 44 顯示了使用低噪聲接收機對一個(gè) PNA-X 直通件的噪聲系數進(jìn)行測量，在默認噪聲帶寬為 4 MHz 的情況下分別用 4 種不同的噪聲平均操作次數值所得到的結果比較。用冷源法進(jìn)行這種測量是非常困難的，因為被測器件是個(gè)直通件，它不能產(chǎn)生增益也不能產(chǎn)生過(guò)多的噪聲，這樣就不能給噪聲接收機輸入一個(gè)超噪聲，這也意味著(zhù)第二級噪聲校正算法是用相同的平均功率減去兩個(gè)噪聲比較大的信號。當 PNA-X 不啟用噪聲平均功能時(shí)，噪聲系數測量的速度非?？?，測得的平均值也是預期的 0 dB，但抖動(dòng) (軌跡噪聲) 是相當高的。把噪聲平均操作的次數增加到 10 次就會(huì )使抖動(dòng)明顯地降低，測量精度也相應有很大的改善。如果把平均的次數提高到 20 次，效果甚至更明顯。相比之下，進(jìn)行 40 次平均所取得的改善就不是特別明顯了。因此使用低噪聲接收機進(jìn)行測量時(shí)，取 10 到 20 次的平均操作可以實(shí)現測量速度和精度之間的良好平衡，特別是在噪聲系數校準的過(guò)程中，這種程度的平均操作是非常必要的 (當使用標準接收機時(shí)，取平均的次數要增加到 50 到 100 次)。需要注意的是，如果用同樣的平均次數測量有增益的器件的噪聲系數，所得到的結果中的抖動(dòng)會(huì )比測量直通件時(shí)的抖動(dòng)小得多。

 

圖 44. 測量一個(gè)直通件的噪聲系數, 用不同的噪聲平均次數值

 

圖 45 是分別用 NFA (Y 因子法) 和 PNA-X (使用冷源法和低噪聲接收機) 對同一個(gè)直通件進(jìn)行噪聲系數測量，在測量時(shí)間大概相等的情況下對測量結果進(jìn)行了比較。PNA-X 的 20 次噪聲平均可以得到近似于 NFA 的積分時(shí)間。從測量結果中可以看到，兩種測量結果的抖動(dòng)是大致相同的。但是 PNA-X 的平均值要比 NFA 更接近預期的值 0 dB，這是因為 PNA-X 能夠更精確地測量被測器件的增益 (在本例中被測器件的增益為 0 dB)。

 

圖 45. 使用 PNA-X 的低噪聲接收機和 NFA 分別測量直通件的噪聲系數

 

測量一個(gè)放大器的噪聲系數

 

圖 46 顯示了使用低噪聲接收機對一個(gè)增益在 15 至 20 dB 的放大器進(jìn)行三次噪聲系數測量，分別用不同的噪聲平均次數。請注意在這個(gè)實(shí)例中，儀器的刻度是每格 0.2 dB，而在上一個(gè)測量直通件的實(shí)例中，儀器的刻度是每格 2 dB。當取 10 到 20 次平均時(shí)，測量結果中的抖動(dòng)是極小的。

 

圖 46. 使用低噪聲接收機并用不同的噪聲平均次數來(lái)測量一個(gè)放大器的噪聲系數

 

測量低增益或大損耗器件

 

PNA-X 網(wǎng)絡(luò )分析儀測量低噪聲系數和低增益器件的能力非常強。為說(shuō)明這一點(diǎn)，圖 47 顯示了對一個(gè)沒(méi)有增益和超噪聲的器件 (40 dB 衰減器) 進(jìn)行噪聲系數測量。如果用 Y 因子法測量這個(gè)器件的噪聲系數將是非常困難的，因為噪聲源在冷熱狀態(tài)下的差異會(huì )被衰減器衰減為一個(gè)極小的值。這個(gè)例子只是為了證明冷源法的有效性，在實(shí)際工作中不需要測量衰減器的噪聲系數，因為衰減器的噪聲系數始終等于它的損耗值。注意，下圖中對數格式的噪聲系數是 S21 的鏡像，這表明測量結果是正確的，因為衰減器的噪聲系數始終為正值且 S21 的對數幅度總是負值。S21 和噪聲系數測量結果之間的基準電平是彼此的負數值，這樣我們就可以把兩條測量軌跡放在一起進(jìn)行比較。同時(shí)，為了使抖動(dòng)達到一個(gè)可以接受的水平，在測量時(shí)做了 50 次噪聲平均。

 

圖 47. 40 dB 衰減器的噪聲系數測量

 

優(yōu)化 S 參數功率電平

 

因為噪聲系數測量通常是針對高增益放大器或變頻器，所以在噪聲系數測量的過(guò)程中，進(jìn)行 S 參數或變頻增益測量時(shí)的端口功率都比較低?？梢宰鰞杉虑閬?lái)改善受到端口功率影響的測量精度。第一個(gè)是斷開(kāi)端口之間功率的耦合關(guān)系，把 PNA-X網(wǎng)絡(luò )分析儀和被測器件輸出端口相連接的那個(gè)端口上的功率設置得高一些，這是因為精確地測量被測器件的 S22 對第二級噪聲校正是有必要的，因此需要把端口的功率電平設置得高一些，以確保進(jìn)行反射測量時(shí)得到良好的 SNR。對大部分器件來(lái)說(shuō)，即便是輸入功率必須很低時(shí)，反向功率仍然可以設置得相當高而不會(huì )導致任何損壞。通常，在測量噪聲系數而對被測器件進(jìn)行正向驅動(dòng)時(shí)，反向端口的功率設置成比被測器件的輸出功率小 5 dB。

 

第二個(gè)是在校準過(guò)程中提高端口 1 的功率，然后對被測器件進(jìn)行測量時(shí)再把這個(gè)功率降低。這意味著(zhù)要把端口 1 的源衰減器設置得盡可能小，但同時(shí)還要保證端口功率可以下降到測量所需要的水平。使用比較小的衰減值意味著(zhù)在校準過(guò)程中可以把端口功率設置得更高，給出更好的 SNR 從而減少軌跡噪聲。

 

在使用標準接收機和外接前置放大器測量噪聲系數時(shí)，設置測量和校準時(shí)的功率電平必須把前置放大器增益考慮在內，以避免測量接收機被壓縮。如果把測試端口上的耦合器反接，那么與常規配置相比，發(fā)送給接收機的功率至少要高 15 dB，在這種情況下必須要謹慎地避免接收機壓縮。通常情況下，為了避免標準接收機產(chǎn)生壓縮，測試端口在采用常規跳線(xiàn)配置時(shí)的功率應設置在 +10 dBm 以下，而在端口耦合器反向接時(shí)，功率應設置在 -5 dBm 以下。

 

在校準時(shí)優(yōu)化功率傳感器的功率電平

 

當測量一個(gè)變頻器的噪聲系數或用標準接收機測量噪聲系數時(shí)，在校準過(guò)程中需要使用功率傳感器對 PNA-X網(wǎng)絡(luò )分析儀 接收機進(jìn)行校準。圖 48 顯示了在校準過(guò)程中可以單獨設置所用到的功率電平，與 S 參數校準和測量時(shí)的通道功率無(wú)關(guān)。為了獲得最高的測量精度，功率傳感器的功率電平應當與進(jìn)行校準時(shí)的功率電平一致－通常是 0 dBm，這樣會(huì )把功率傳感器的線(xiàn)性度誤差從總體測量不確定性中去除。PNA-X 接收機的線(xiàn)性度要比功率傳感器的還要明顯，因此接收機可以在較高的功率上進(jìn)行校準，即便是用較低的功率進(jìn)行測量也能夠保證極高的測量精度。根據源衰減的值以及測量頻率范圍的不同，在校準過(guò)程中可能難以達到 0 dBm。在這種情況下，只要保證不要讓激勵源到了無(wú)法進(jìn)行自動(dòng)電平控制的地步，應該把功率設置得盡可能地高。

 

當測量增益特別大的器件而需要把源衰減的值設置得很大時(shí) (或者是為了把測量功率設置得足夠低來(lái)避免被測器件被壓縮)，最大可用功率可能低于功率傳感器的測量范圍，這會(huì )導致功率校準失敗。在這種情況下，可以把源衰減器的值設置得小一點(diǎn)，這樣在校準時(shí)就會(huì )有更大的功率，而在測量噪聲系數時(shí)可以把一個(gè)外部衰減器接到被測器件的輸入端。這個(gè)衰減器對噪聲系數測量結果的影響可以通過(guò)把它的 S 參數進(jìn)行去嵌入而消除，S 參數必須在測量之前單獨地測量。

 

圖 48. 當使用功率計進(jìn)行校準時(shí), 功率電平可以獨立于通道功率進(jìn)行優(yōu)化

 

壓縮和損壞電平

 

就像 S 參數測量一樣，在測量噪聲系數時(shí)確保噪聲接收機不被壓縮也是很重要的。在使用 PNA-X網(wǎng)絡(luò )分析儀 的低噪聲接收機時(shí)更要注意這一點(diǎn)，因為低噪聲接收機的增益要比標準接收機的增益高得多。在考慮噪聲測量中的壓縮時(shí)，必須要把被測器件的增益和帶寬兩個(gè)因素都考慮進(jìn)去。當被測器件的增益或帶寬提高時(shí)，輸出的噪聲功率也跟著(zhù)提高。當用低噪聲接收機測量寬帶器件時(shí)，前端放大器最有可能先產(chǎn)生壓縮；當測量窄帶器件時(shí)，接收機后端的模數轉換器 (ADC) 很可能在前端產(chǎn)生壓縮之前就已經(jīng)超過(guò)了其工作范圍。 PNA-X網(wǎng)絡(luò )分析儀 的低噪聲接收機在前端有幾個(gè)用來(lái)檢測壓縮的二極管檢波器。如果儀器的前端產(chǎn)生過(guò)載或者 ADC 超出了工作范圍，儀器固化軟件就會(huì )產(chǎn)生一個(gè)告警信息。如果告警信息在測量過(guò)程中只是閃現了一下，這可能是由干擾造成的 (參見(jiàn)下一節內容)，如果告警信息一直存在，那么噪聲接收機或被測器件的增益就必須降低。注意，在校準之后改變接收機的增益值不會(huì )使測量結果無(wú)效，這是因為在校準過(guò)程中接收機的全部三個(gè)增益設置都已經(jīng)過(guò)了測量。如果接收機的增益設置已經(jīng)很小了，那么可以有兩種選擇來(lái)解決問(wèn)題：在被測器件的輸出端口連接一個(gè)衰減器 (這不會(huì )影響被測器件的噪聲系數測量) 或者改用標準接收機進(jìn)行測量。如果使用了衰減器，它的影響可以用去嵌入的方法去除掉，這樣測得的被測器件 S21 就是正確的。使用標準接收機時(shí)，由于它沒(méi)有前端放大器，因此噪聲所產(chǎn)生的壓縮不會(huì )引起問(wèn)題。然而，如果把測試端口上的耦合器反接，那么與標準配置相比，發(fā)送給接收機的功率至少提高 15 dB，因此在進(jìn)行 S 參數測量時(shí)仍然要謹慎地避免接收機壓縮。

 

在測量混頻器或變頻器時(shí)，被測器件的輸出端口需要進(jìn)行額外的過(guò)濾，以消除本振饋通或其他雜散信號的影響，否則也有可能造成壓縮現象。

 

噪聲系數不確定性計算器是檢查壓縮現象的一個(gè)實(shí)用工具。它從噪聲系數的測量結果中讀取數據，并且顯示測得的噪聲功率距離接收機的本底噪聲有多遠以及產(chǎn)生壓縮的量，如圖 49 所示。

 

圖 49. Keysight PNA-X 噪聲系數不確定度計算器顯示了被測器件的噪聲功率是否導致噪聲接收機產(chǎn)生壓縮

 

當使用低噪聲接收機時(shí)，PNA-X網(wǎng)絡(luò )分析儀 的端口 2 的損壞電平會(huì )從 +30 dBm 下降到 +25 dBm。這種損壞電平的降低是由噪聲接收機內部的 LNA 造成的，它比標準接收機中的混頻器對測量信號更敏感。

 

干擾

 

當測量沒(méi)有屏蔽的被測器件的噪聲系數時(shí)，例如印刷電路板上的放大器，來(lái)自蜂窩電話(huà)/ 移動(dòng)手機、無(wú)線(xiàn)局域網(wǎng)路由器或客戶(hù)端、其他無(wú)線(xiàn)電信號的電磁干擾經(jīng)常會(huì )影響到被測器件的測量結果。這些干擾表現出來(lái)的特征是測量結果中出現非重復性的尖峰值，如圖 50 所示。通常這種干擾只會(huì )對同一個(gè)頻率上的噪聲測量結果帶來(lái)不利影響。然而，如果干擾過(guò)大并且一直出現，它會(huì )導致噪聲接收機產(chǎn)生壓縮現象，從而會(huì )使測量結果不準確。如果出現這種情況，解決辦法之一是盡可能地把PNA-X網(wǎng)絡(luò )分析儀 內部接收機的增益降低。當然最好的方法還是在一個(gè)屏蔽比較好的環(huán)境內 (例如在屏蔽室中) 測量噪聲系數。

 

圖 50. 電磁干擾對噪聲系數測量的影響通常表現為測量軌跡上出現大的尖峰

 

 

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