【導讀】什么是晶振起振問(wèn)題？晶振起振問(wèn)題就是晶振的負載電容匹配可能不合適，導致晶振不起振。那么引起晶振問(wèn)題的原因是什么呢？本文一位技術(shù)工程師結合自己的工作來(lái)教給大家如何分析晶振起振問(wèn)題。
晶振起振問(wèn)題，晶振的負載電容匹配可能不合適，導致晶振不起振。
現象：
系統工作偶爾不正常。
最近在一個(gè)項目中，遇到一個(gè)很奇怪的問(wèn)題。系統偶爾會(huì )不工作。而且跑了四個(gè)周的系統，中間出現過(guò)一次。后來(lái)不知道怎么恢復了。當今天再次遇到，感覺(jué)這種情況，肯定是哪里有問(wèn)題，不可能是運氣使然。
這里將問(wèn)題最終歸結到晶振上，是因為問(wèn)題的可重復性。
在第一次出現時(shí)，盡管在其他地方都進(jìn)行過(guò)測量，但是沒(méi)有懷疑到晶振上，所以一直沒(méi)有將問(wèn)題再次重現(后來(lái)莫名系統恢復了正常)。
如果，問(wèn)題沒(méi)有重現，就無(wú)法分析問(wèn)題。因為可能的地方太多。
而這次問(wèn)題再次出現時(shí)，只有當在晶振上觸碰時(shí)，問(wèn)題得到了重現，因此證明跟晶振這里有問(wèn)題。
1、測試分析過(guò)程：
2、首先萬(wàn)用表測量AD輸出引腳（串行輸出，連接MCU），AD輸出端沒(méi)有轉換完成信號（一個(gè)下降沿）出現。
3、這個(gè)時(shí)候，如果人為將AD輸出端拉低，系統工作正常。
4、所以，MCU端應該沒(méi)有出現異常。
5、但是，AD端很長(cháng)一段時(shí)間都是工作正常的，為什么突然工作出現了異常。
6、在用示波器測試了各個(gè)地方之后，最終懷疑到了晶振上。
7、當將示波器探頭放到XTAL1上時(shí)，系統恢復正常工作。如果將探頭拿下，則系統不再工作。
8、由此斷定，系統工作異常的原因，出現在晶振起振上。
9、后來(lái)先將負載電容調大一些，發(fā)現依然無(wú)法起振。
10、之后將負載電容調小了一些，晶振起振。系統恢復正常工作。
注：
對于晶振引起的問(wèn)題很多時(shí)候很難發(fā)現，這個(gè)要十分注意。當其他地方，都檢測過(guò)沒(méi)有之后，可能就要考慮晶振問(wèn)題了。并聯(lián)電容，接地，晶振不良率，都有可能導致晶振起振出現問(wèn)題。
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