日前，泰克高級設計工程師Kan Tan與泰克首席工程師John Pickerd共同撰寫(xiě)《防止S參數級聯(lián)時(shí)失真的插值程序》(Interpolation Procedure For Cascading S-Parameters To Prevent Aliasing)一文被“2013 IEEE 國際電子測量與儀器學(xué)術(shù)會(huì )議（ICEMI2013）”錄用。同時(shí)這兩位技術(shù)專(zhuān)家將在8月16-19日于哈爾濱舉辦“ICEMI2013”上發(fā)表演講，并通過(guò)泰克的串行數據鏈路分析（SDLA）工具及設備為現場(chǎng)觀(guān)眾演示這種“通過(guò)對S參數再采樣來(lái)防止S參數級聯(lián)過(guò)程中產(chǎn)生的失真”的具體方法。

S參數是為了對射頻元器件的線(xiàn)性特性進(jìn)行分析和建模而開(kāi)發(fā)的一種方法。在把多個(gè)獨立的器件級聯(lián)起來(lái)做成一個(gè)比較復雜的系統時(shí)，S參數在分析、建模和設計的過(guò)程中起著(zhù)重要的作用。在高速串行數據鏈路系統中，一個(gè)復雜的系統可能由多個(gè)子系統組成，每個(gè)子系統可以用一個(gè)S參數集表示，必須把這些S參數集組合起來(lái)，才能獲得整個(gè)系統的模型。

在將這些S參數集組合時(shí)，S參數數據必須覆蓋所需帶寬，并且必須擁有足夠精細的頻率分辨率，以防止失真。也就是說(shuō)，S參數數據的頻率分辨率必須足夠精細，以提供足夠長(cháng)的時(shí)間間隔，能夠覆蓋脈沖響應時(shí)間周期外加反射時(shí)間周期。雖然每一個(gè)模塊的所有S參數數據都可能有合適的頻率分辨率，足以覆蓋時(shí)間間隔，但在把這些模塊以級聯(lián)方式結合在一起時(shí)，原有的頻率分辨率可能會(huì )變得不夠，不能覆蓋足夠的時(shí)間間隔，這將導致S參數集出現相位失真。

泰克專(zhuān)家的《防止S參數級聯(lián)時(shí)失真的插值程序》一文詳細介紹了防止S參數級聯(lián)時(shí)出現相位失真的具體方法，通過(guò)對每個(gè)模塊的各個(gè)S參數重新采樣，可提供更小的頻率間隔，組合后的S參數將獲得更高的時(shí)間間隔來(lái)滿(mǎn)足整個(gè)脈沖響應加反射所需的時(shí)間周期，來(lái)防止相位失真。在執行再采樣時(shí)，可選擇在頻域中執行插補或通過(guò)插補幅度及相位成分等方式來(lái)完成。本文還列舉了一個(gè)級聯(lián)反嵌和嵌入實(shí)例來(lái)演示這種防止失真的方法。

這種先進(jìn)的方法，是基于配備有 SDLA 軟件的泰克 DSA/DPO/MSO 70000 系列實(shí)時(shí)示波器的 SDLA 可視化儀（Visualizer）進(jìn)行模擬和驗證的。泰克SDLA可視化儀應用在測量電路反嵌、模擬電路嵌入和接收機均衡等領(lǐng)域，可為計算機、通信和內存總線(xiàn)提供完整的仿真和測量環(huán)境。

 

IEEE國際電子測量與儀器學(xué)術(shù)會(huì )議(ICEMI)是兩年一度的學(xué)術(shù)盛會(huì )，從1992年至今已成功舉辦過(guò)十屆，為電子測量與儀器領(lǐng)域的發(fā)展現狀和前景的研討及尖端技術(shù)的交流搭建了一個(gè)有效的平臺。每一屆ICEMI會(huì )議都會(huì )向全球從事測量與儀器儀表研究的專(zhuān)業(yè)人士征稿，邀請他們分享其最新的研究成果。欲報名參加ICEMI2013，請點(diǎn)擊www.icemi.cn進(jìn)行注冊。

“本次《防止S參數級聯(lián)時(shí)失真的插值程序》一文能夠被ICEMI錄用，充分體現了ICEMI對泰克技術(shù)專(zhuān)家一直致力于推動(dòng)測試測量行業(yè)創(chuàng )新的肯定。泰克將繼續秉承多年來(lái)的創(chuàng )新傳統，提供更完善的技術(shù)和應用，同時(shí)加強與各方的合作，積極推進(jìn)行業(yè)的長(cháng)期發(fā)展。”泰克亞太區市場(chǎng)總監王中元 (Felix Wong)表示。

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