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反饋點(diǎn)接到運放同相端,輸出震蕩后是電路還是負反饋嗎?

發(fā)布時(shí)間:2021-05-14 責任編輯:lina

【導讀】最近在選型一款高壓側電流檢測芯片,很多芯片廠(chǎng)商都有類(lèi)似芯片推薦,TI的INA168,ADI家的LTC6101,Maxim的MAX4372。工作原理是將采樣電阻的電壓轉移到運放輸入級的電阻Rin,芯片輸出端外接下拉電阻Ro,實(shí)現增益可調的效果,G=Ro/Rin。

最近在選型一款高壓側電流檢測芯片,很多芯片廠(chǎng)商都有類(lèi)似芯片推薦,TI的INA168,ADI家的LTC6101,Maxim的MAX4372。工作原理是將采樣電阻的電壓轉移到運放輸入級的電阻Rin,芯片輸出端外接下拉電阻Ro,實(shí)現增益可調的效果,G=Ro/Rin。
 
 
 反饋點(diǎn)接到運放同相端,輸出震蕩后是電路還是負反饋嗎?
 
反饋點(diǎn)接到運放同相端,輸出震蕩后是電路還是負反饋嗎?

反饋點(diǎn)接到運放同相端,輸出震蕩后是電路還是負反饋嗎?
 
但是通過(guò)對三個(gè)芯片的原理圖框圖分析,發(fā)現輸出反饋接回輸入端的位置不一樣。覺(jué)得ADI的LTC6101接入的做法才是負反饋,TI的INA168和Maxim的MAX4372是不是原理框圖畫(huà)錯了,畢竟反饋接到了運放的同相端,這樣子還是負反饋嗎?認為這種接法是用了正反饋,工作起來(lái)是要振蕩的?
 
對于這個(gè)疑問(wèn),還去TI的論壇咨詢(xún)了一番。當然,Datasheet中拼寫(xiě)錯誤是有的。但這個(gè)原理性的錯誤,在Datasheet上面是不會(huì )弄錯的,只是我沒(méi)有弄懂這個(gè)工作原理。對電路的實(shí)際連接方式?jīng)]有深入理解的。
 
反饋點(diǎn)接到運放同相端,輸出震蕩后是電路還是負反饋嗎?
 
負反饋是有判定方法的,并不是之前機械的記憶,反饋點(diǎn)連接到反相端才是負反饋電路。在這里和壇友一起分享下我的理解過(guò)程,其實(shí)兩種電路都是負反饋的,運放的輸出級是接的不同晶體管,TI的INA168輸出級接的是NPN三極管,反饋信號是從NPN的集電極反饋到運放的同相端V+,所以NPN三極管的集電極輸出相對基級輸入(運放的輸出)已經(jīng)有了180°的反相。當運放輸出Vo電壓降低,Ib就會(huì )降低,Ic也會(huì )降低,這個(gè)時(shí)候集電極電壓Vc就會(huì )增加,運放的同相端電壓V+就會(huì )增加,這個(gè)時(shí)候又會(huì )使得輸出Vo再次增加。
 
因此,運放輸出的降低會(huì )導致Vo的再次增加,正是由于這個(gè)反相,信號是運放的反相端輸入的話(huà),需要將運放同相端作為反饋點(diǎn)。
 
ADI的LTC6101的芯片的運放輸出端是使用PMOS,從PMOS的源級反饋,因此PMOS的源極輸出相對柵級輸入(運放的輸出)是同相位的,要實(shí)現負反饋的功能,需要將運放反相端作為反饋點(diǎn)。
 
兩種原理框圖連接的電路是不同的,所以反饋點(diǎn)選用也是不一樣的。
 
雖然兩種結構都是負反饋,但是實(shí)現功能的時(shí)候還是有些區別,比如下圖兩個(gè)電壓跟隨器的設計中,反饋點(diǎn)分別是同相端和反相端,但是圖1的輸出電壓明顯受到NPN的BE之間Vbe=0.6V的限制,輸入Vin=4V,輸出最大電壓Vo=Vin-Vbe=3.4V。如果Q1使用MOSFET替代,那么Vgs的控制電壓更大,一般Vgs有2V左右,將會(huì )導致輸出電壓更低。所以圖1的射級跟隨器的設計會(huì )導致輸出電壓達不到要求。
 
反饋點(diǎn)接到運放同相端,輸出震蕩后是電路還是負反饋嗎?
 
使用圖2的電路設計,輸出電壓就不受Vbe的影響,輸出電壓壓降就是Vce,即使使用MOSFET,也可以保證輸出電壓跟隨輸入電壓的。
 
由于圖1的使用輸出電壓受限到的劣勢,TI的芯片也漸漸的不使用這種結構了,在其新的電流檢測芯片INA180,INA186就是使用差分輸入信號了。
 
電路看起來(lái)不復雜,要是僅僅是單純記住運放的反饋點(diǎn)是反相端,這樣電路就會(huì )分析不下去。還是要結合實(shí)際電路做分析的。
 
這個(gè)帖子下午發(fā)了之后,有壇友私信說(shuō)即使用PNP的接法,這個(gè)電路也是工作不起來(lái)的,震蕩的厲害。由于僅僅是對芯片的原理框圖不理解,才對相關(guān)電路進(jìn)行分析,沒(méi)有仿真看結果。趕緊仿真看了結果,輸出完全是不能看的。這個(gè)仿真輸出看樣子是正反饋震蕩嗎?之前的分析結果是錯誤的嗎?
 
反饋點(diǎn)接到運放同相端,輸出震蕩后是電路還是負反饋嗎?
 
由于對LTSPICE仿真loopgain不熟悉,只能得到閉環(huán)增益曲線(xiàn),對判定系統穩定性沒(méi)有太多幫助。
 
反饋點(diǎn)接到運放同相端,輸出震蕩后是電路還是負反饋嗎?
 
重新使用TINA仿真查看環(huán)路的相位余量和增益余量,經(jīng)過(guò)仿真得知,在此電路下根本沒(méi)有相位余量的,系統肯定不穩定的,所以反饋還是負反饋,但是由于環(huán)路余量不夠,所以引起震蕩的。
 
反饋點(diǎn)接到運放同相端,輸出震蕩后是電路還是負反饋嗎?
 
由于對環(huán)路穩定性改進(jìn)水平有限,需要增加零極點(diǎn)來(lái)補償。嘗試加了兩個(gè)電容后,loopgain的相位余量有86°。
 
反饋點(diǎn)接到運放同相端,輸出震蕩后是電路還是負反饋嗎?
 
隨后使用LTSPICE進(jìn)行仿真,輸出基本跟隨輸入,有些許過(guò)沖,也能符合要求。但是對于INA168,LTC6101等芯片,這些環(huán)路穩定性肯定考慮到了,外加電路也不會(huì )引起震蕩。至于如何才能讓系統更穩定,大家可以發(fā)表看法來(lái)改進(jìn)的。
 
反饋點(diǎn)接到運放同相端,輸出震蕩后是電路還是負反饋嗎?
 
從一個(gè)芯片選型,讓我更加深入了解負反饋的應用。負反饋書(shū)本介紹是說(shuō):使輸出起到與輸入相反的作用,使系統輸出與系統目標的誤差減小,從而系統趨于穩定。以后電路設計要根據電路特性分析,不能只記一個(gè)概念的。這樣才能靈活應用電路,得到自己需要的數據。
 
附件有用到的LTspice和TINA的仿真電路,感興趣的也可以仿真看看的。
 
反饋點(diǎn)接到運放同相端,輸出震蕩后是電路還是負反饋嗎?
 
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