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一種IGBT元件自損快速檢測新方法

發(fā)布時(shí)間:2013-08-21 責任編輯:eliane

【導讀】IGBT元件往往采用多并聯(lián)形式,因此如果某個(gè)IGBT元件發(fā)生故障,將會(huì )導致并聯(lián)回路中的大量IGBT損壞。而常用的快速檢測方法中或多或少存在著(zhù)一些無(wú)法避免的缺點(diǎn),因此需要一種新的快速檢測法來(lái)滿(mǎn)足滿(mǎn)足IGBT保護的實(shí)際要求。

IGBT元件保護幾種方法以及優(yōu)缺點(diǎn)

由于 IGBT元件電流、電壓能力的限制,在實(shí)際使用的大容量傳動(dòng)裝置系統中,往往采用多并聯(lián)形式。如果發(fā)生某個(gè)IGBT元件擊穿等短路故障時(shí),若不及時(shí)快速封鎖IGBT脈沖,就可能導致并聯(lián)回路中大量IGBT損壞,擴大故障范圍。

在傳動(dòng)裝置系統中,進(jìn)、出線(xiàn)主回路一般都設置有霍爾ct,用于檢測主回路電流,并通過(guò)主控板的硬件和軟件來(lái)處理、判斷過(guò)流情況。如果發(fā)出重故障跳閘信號,就要快速封鎖脈沖,保護IGBT元件。其優(yōu)點(diǎn)是對負載引起的過(guò)流保護效果比較明顯,但缺點(diǎn)是過(guò)流檢出到脈沖封鎖的過(guò)程時(shí)間太長(cháng),需要幾個(gè)毫秒,而且直流回路的短路也保護不了(實(shí)際系統中沒(méi)有直流回路電流檢測ct)。因此, 僅靠該保護方式顯然不能滿(mǎn)足IGBT保護的實(shí)際要求。

為此,還必須采取其它的快速檢測方法。目前常用的方法有以下幾種:

1、IGBT vce電壓監測法

這是比較常用的方法。利用集電極電流ic升高時(shí)vge或vce也會(huì )升高的這一現象,當vge或vce超過(guò)設定允許值時(shí),輸出信號去封鎖IGBT的脈沖。由于vge在發(fā)生故障時(shí)變化較小,難以掌握,一般較少使用。而vce的變化較大,因此實(shí)際中一般常常采用vce監測法來(lái)對 IGBT進(jìn)行保護。這種方法的優(yōu)點(diǎn)是檢測靈敏,動(dòng)作迅速,有效地避免了并聯(lián)回路IGBT大面積損壞。但這種方法的缺點(diǎn)也比較明顯:需要配線(xiàn),將每個(gè) IGBT的集電極與發(fā)射極之間的電壓信號引入脈沖驅動(dòng)板。另外由于IGBT關(guān)斷時(shí),集電極與發(fā)射極之間的電壓比較高,需要增加脈沖放大板相應的絕緣與電位 隔離措施。圖1是利用檢測集電極與發(fā)射極之間電壓vce對IGBT進(jìn)行保護的一個(gè)例子。

圖1:vce電壓監測以及保護的原理
圖1:vce電壓監測以及保護的原理
2、IGBT門(mén)極電壓fb監控法

通過(guò)監控IGBT元件的門(mén)極電壓vge來(lái)判斷IGBT元 件是否損壞。如果判斷出IGBT元件損壞,立即快速封鎖傳動(dòng)裝置中的所有IGBT元件,其原理如圖2所示。這種方法的優(yōu)點(diǎn)是結構簡(jiǎn)單,比較實(shí)用。缺點(diǎn)是只有當某個(gè)IGBT損壞時(shí)才能判斷出,對一般的過(guò)流不起作用。而且,由于IGBT損壞短路時(shí),因為放大板上電容的作用,門(mén)極電壓vce變化緩慢,一般需要經(jīng) 過(guò)1ms左右的延遲才能正確判斷和封鎖脈沖,如圖3所示。在這期間,并聯(lián)回路大量IGBT就可能受到損害,擴大了故障范圍。

圖2:門(mén)極電壓檢測以及保護原理圖
圖2:門(mén)極電壓檢測以及保護原理圖
圖3:IGBT損壞時(shí)門(mén)極電壓變化及檢出
圖3:IGBT損壞時(shí)門(mén)極電壓變化及檢出
 
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3、一種新型IGBT元件自損快速檢測法(即門(mén)極電流ig檢測法)

當IGBT元件損壞時(shí),門(mén)極與發(fā)射極之間也被擊穿,但由于結電容的作用,門(mén)極電壓變化緩慢。但根據電路理論i=cdu/dt可知,門(mén)極電流ig變化比門(mén) 極電壓vge快得多。因此,可以綜合IGBT的門(mén)極脈沖指令與門(mén)極電流來(lái)準確、快速地判斷IGBT是否損壞。一旦檢測到某個(gè)IGBT損壞,立即封鎖 IGBT脈沖指令,能完全避免并聯(lián)回路大量IGBT損壞,不會(huì )擴大故障范圍。具體原理圖如圖4所示。

圖4 門(mén)極電流檢測以及保護原理圖
圖4:門(mén)極電流檢測以及保護原理圖
 
IGBT元件正常時(shí),當門(mén)極電壓給定信號從on切換成off后,IGBT門(mén)極電流ig數值比較小,具體數值與IGBT元件有關(guān),我們已經(jīng)掌握了 三菱3.3kv/1.2ka大容量IGBT的電流數值以及延時(shí)時(shí)間。IGBT損壞時(shí)門(mén)極電流變化以及檢出如圖5所示。當檢測出IGBT有異常時(shí),立即發(fā)出 脈沖封鎖命令,防止故障擴大化。

該方式的優(yōu)點(diǎn)是檢測、封鎖時(shí)間極短,只有幾個(gè)微秒,能完全避免IGBT大面積損壞。缺點(diǎn)是在IGBT導通工作時(shí),無(wú)法判斷其是否異常,只有在 IGBT off指令發(fā)出時(shí)才可以判斷IGBT是否自損壞。

圖5:IGBT損壞時(shí)門(mén)極電流變化以及檢出
圖5:IGBT損壞時(shí)門(mén)極電流變化以及檢出

現場(chǎng)改造及效果

原來(lái)現場(chǎng)變頻器中采用的是門(mén)極電壓fb監控法。由于脈沖封鎖無(wú)法快速及時(shí),在某個(gè)IGBT損壞時(shí)造成其它IGBT大面積損壞,故障損失慘重,必須對現場(chǎng)進(jìn)行技術(shù)改造。

如果采用vce電壓監測法對IGBT過(guò)電流進(jìn)行保護,雖然比較成熟和常用,但需要對原變頻器大動(dòng)干戈,主回路要增加很多接線(xiàn),脈沖放大板的改動(dòng)量也較大。同時(shí)由于原變頻器沒(méi)有太多空間來(lái)布線(xiàn)及采取絕緣措施,無(wú)論從改造工作量和成本上都不太可行。所以vce電壓監測法不適合采用。

采用門(mén)極電流ig檢測法就方便、簡(jiǎn)單許多。只要在原變頻器IGBT保護功能的基礎上進(jìn)行局部改造,增加IGBT門(mén)極電流檢測功能即可。這樣一旦門(mén)極導通電流超過(guò)設定值,且經(jīng)過(guò) x微秒左右的延時(shí)后,門(mén)極電流仍然超過(guò)設定值,就判斷該IGBT損壞或異常,立刻發(fā)出所有IGBT脈沖封鎖指令,及時(shí)進(jìn)行有效保護,防止大面積IGBT損壞。

圖6 改造后的保護原理圖
圖6:改造后的保護原理圖
 
圖6為改造后的保護原理圖,其中灰色部分是新增的門(mén)極電流ig檢測功能部分。

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