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如何準確測量環(huán)形器&隔離器三階互調IM3

發(fā)布時(shí)間:2021-11-23 來(lái)源:大普通信 責任編輯:wenwei

【導讀】在環(huán)形器&隔離器的設計中,如何控制好三階互調失真信號(以下部分簡(jiǎn)稱(chēng)IM3)是非常有挑戰的,特別是產(chǎn)品工作頻率小于1GHz的環(huán)形器或隔離器,比如現在很熱門(mén)的700MHz頻段5G應用;而對客戶(hù)而言,比較難的是怎么相信和判斷環(huán)形器&隔離器廠(chǎng)家所提供測試數據的準確性。


怎樣才能正確的測量出環(huán)形器&隔離器三階互調失真信號呢?


在大功率射頻系統中,當兩個(gè)信號在一個(gè)線(xiàn)性系統里,由于非線(xiàn)性因素存在使得一個(gè)信號f1的二次諧波與另一個(gè)信號f2的基波混頻產(chǎn)生兩個(gè)寄生信號2f1-f2和2f2-f1,也就是所謂的三階互調失真信號。同理,3f1-2f2或者3f2-2f1則稱(chēng)之為五階互調失真信號,如下圖所示:


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IM3對于我們信號系統有什么影響呢?舉個(gè)簡(jiǎn)單的例子,當我們需要錄制語(yǔ)音或者音樂(lè ),并想盡可能原汁原味將其再現時(shí),失真就不受歡迎了。通常人們所說(shuō)的“失真”指的就是非線(xiàn)性失真,這其中就包括了IM3。


這些互調失真信號都不是我們所需要的,但是卻也無(wú)法完全消除掉,但是我們可以通過(guò)設計將其降低到我們可以接受的范圍內。


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系統設計者們希望盡量降低這些雜訊的功率,首先是需要準確測量這些失真信號的功率大小,那么如何將這些失真信號準確的測試出來(lái)就是一個(gè)巨大的挑戰。


本次,我們主要討論IM3互調失真信號的測量,暫不討論如何降低系統IM3信號功率。另外,五階互調IM5失真信號的功率與單音信號或IM3的信號相比非常小,所以目前絕大部分客戶(hù)僅僅測試3rd IMD即可。


搭建3rd IMD測試環(huán)境


下圖是前向IM3測試環(huán)境的典型框架和儀表連接圖,及測試過(guò)程:


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●     Keysight 5182A信號發(fā)生器產(chǎn)生2個(gè)信號源f1&f2;

●     經(jīng)過(guò)Bonn 寬帶AMP(150W 1000M1)功率放大器分別放大f1&f2;

●     在無(wú)源模塊中,經(jīng)過(guò)N型同軸隔離器隔離功放與3dB電橋(>50dB的隔離度);

●     再經(jīng)過(guò)超低互調的3dB電橋將2個(gè)信號合路為一個(gè)信號(3dB電橋的選擇尤為重要);

●     合路信號經(jīng)過(guò)DUT(Device Under Test),在本次測試中為大普環(huán)形器;

●     再經(jīng)過(guò)2個(gè)定向耦合器(Directional Coupler)輸出功率到PSA,定向耦合器必須端接具有出色VSWR(<1.1)帶寬大功率負載;

●     最后經(jīng)過(guò)PSA頻譜分析儀&功率計測試分析測量信號的大??;

●     通過(guò)大普定制化軟件通過(guò)計算輸出IMD分析結果并產(chǎn)生相應的報告;


測試過(guò)程中需要注意的事項


測試環(huán)境中的連接器、電纜和測試夾具也都會(huì )影響 IM3測量結果:


1. 推薦N型連接器,在測試環(huán)境中保持連接器干凈并正確擰緊,盡量使用鍍銀連接器;


2. 推薦高性能低PIM N型射頻線(xiàn)纜,其具有非常好的相位穩定性和低互調特性;


3. 測試夾具和DUT盡量在完全隔離磁場(chǎng)等環(huán)境下測試,確保充分屏蔽雜散輻射信號干擾。


其它注意事項:


1. 測試過(guò)程中,應當使用頻譜分析儀來(lái)測量相對功率(dBc),而不是絕對功率 (dBm)。


2. 功率計和頻譜分析儀等儀表僅在其特征阻抗(50 歐姆)時(shí)測量準確,因此匹配不良的 DUT或鏈路也會(huì )導致測試結果不準確,所以確保整個(gè)鏈路的阻抗無(wú)限接近50ohm ,被測件DUT的輸入輸出VSWR盡量<1.25。


3. 儀表的輸入功率不要超過(guò)儀表的最大可允許值這樣過(guò)分驅動(dòng)頻譜分析儀(E4445A)的內部混頻器?;祛l器過(guò)載會(huì )導致測試值誤差,因此分析儀的輸入電平應當<-23dBm,典型分析儀設置為:


●     pan = 2kHz 

●     RBW = 3Hz 

●     VBW = 3Hz


測試誤差的計算


每個(gè)系統都會(huì )有測量誤差。 這個(gè)測量誤差可以計算出來(lái):


16.png


事實(shí)上,我們測量系統的IMDsystem和器件實(shí)際的誤差之間IMDdevice有如下圖的關(guān)系。


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簡(jiǎn)單說(shuō)明一下上圖的關(guān)系。比方說(shuō),我們的測試系統的系統IM3測量值要盡量遠大于被測器件的實(shí)際測量值,例如量具的精度要遠大于被測件,量具的精度相對于被測試件精度越高測量就越準確誤差就越小反之,則誤差就會(huì )變大。


在現實(shí)的測試過(guò)程中,我們一般要保證IMDsystem - IMDdevice ≤ -15dB,這時(shí)候測量誤差大約為 +1.4dB / -1.7dB,我們認為這個(gè)測量誤差在實(shí)際測試中是可以可接收的。當然為了最小化測量誤差,IMD系統IM3應該優(yōu)于被測件DUT IM3IMDsystem - IMDdevice ≤ -30dB或更多這樣產(chǎn)生的誤差會(huì )更小。


綜上所述


三階互調(IM3)測試是一個(gè)非常復雜的系統測試,每一個(gè)環(huán)節的誤差如果控制不好,經(jīng)過(guò)層層累加,反饋到最終的測試結果上,就會(huì )和實(shí)際的指標存在較大的差異。


一套高精度的測試系統投入較大,并且具有較強的專(zhuān)用性,絕大部分客戶(hù)是沒(méi)有自建的測試能力,現在的網(wǎng)絡(luò )環(huán)境對IMD的指標要求又越來(lái)越高,對環(huán)形器&隔離器的設計挑戰也很大,產(chǎn)品本身的指標余量往往不是很足,而目前很多系統的測試結果是要優(yōu)于實(shí)際指標,最終是有可能會(huì )導致客戶(hù)的整套系統的IMD指標出現問(wèn)題,再往回追溯的難度和成本都會(huì )非常高。


目前市面上關(guān)于互調測試設備的種類(lèi)和類(lèi)型有很多,但是不同的測試系統往往會(huì )帶來(lái)不同的測量誤差,大普通信采用高精度的搭建式系統,信號源和頻譜分析等儀表均采用獨立的品牌專(zhuān)用儀表,其信號和分析精度可靠并可以根據需要升級,在保護功放的情況下切換到任意頻率和功率大小。最終是可以確保測試結果和實(shí)際指標的誤差控制在一個(gè)最小的范圍,可以給到客戶(hù)一個(gè)放心可靠的選擇。以700 MHz為例,當前大普的系統IMDsystem經(jīng)過(guò)長(cháng)期可靠使用可以保證<-95dBc(2x65w ,1MHz Spacing)。


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