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采用低壓晶體管進(jìn)行高壓電流檢測

發(fā)布時(shí)間:2019-08-19 責任編輯:lina

【導讀】專(zhuān)用集成電路的應用使電流監控變得越來(lái)越簡(jiǎn)單。各種電流監控集成電路隨時(shí)買(mǎi)得到,而且多數情況下都工作得很好,還有各種儀表放大器也是如此。
 
專(zhuān)用集成電路的應用使電流監控變得越來(lái)越簡(jiǎn)單。各種電流監控集成電路隨時(shí)買(mǎi)得到,而且多數情況下都工作得很好,還有各種儀表放大器也是如此。使用分立元件構建電流監控器似乎顯得多余,然而在某些情況下,特別是在有現成的低壓元件時(shí),使用分立元件的電路來(lái)進(jìn)行電流監控可能是最好的方法。
 
本設計實(shí)例中的電路用于監控伺服系統+180/−180V電源的兩個(gè)電源軌中的電流。圖1顯示了用于監控負軌的電路相關(guān)部分。監控正軌的電路只需用PNP設備替換NPN即可。采用價(jià)格便宜的雙晶體管和1%電阻來(lái)設置Iref以及Re1和Re2可獲得最佳效果。Rsense應為0.1%并且具有足夠的額定功耗。
 
采用低壓晶體管進(jìn)行高壓電流檢測
圖1:負軌監控電路。
 
圖1所示電路和所有類(lèi)似拓撲結構的設計靈感均來(lái)自電流鏡拓撲結構,以及Re2上的電流隨Rsense上的電流、Rc1上的電壓隨Rsense上的電壓線(xiàn)性變化的這個(gè)概念。
 
該電路的作用依賴(lài)于Re1和Re2。讓Iref相當小而Re2和Re1相當大,當Re2和Re1的值相等時(shí),相對于Rsense上的電壓,發(fā)射極的電壓將增加。當負載在無(wú)負載和滿(mǎn)負載之間變化時(shí),這將反過(guò)來(lái)減小輸出設備上Vce的變化。
 
因此,審慎而明智地選擇Iref、Re1、Re2、Rc2和Rc1可以防止Q2進(jìn)入飽和狀態(tài)并且不會(huì )超過(guò)晶體管的最大工作電壓。請記住,hoe=I(集電極)/VA(早期電壓)意味著(zhù)減少I(mǎi)c的變化也會(huì )減少β的變化,從而改善線(xiàn)性度。Rc是Rc1和Rc2之和,因此比率Rc1/Rc確定無(wú)負載時(shí)Vout−處的偏移。滿(mǎn)載時(shí)Rsense上的電壓決定了Re2和Rc1的電流變化,從而決定了Vout−的滿(mǎn)量程輸出。一旦Iref值建立,就可以很容易計算出Rc和Rd上所需的無(wú)負載電壓。通過(guò)使用發(fā)射極電阻,可以顯著(zhù)降低Vce變化對Q2的β的影響,而且從仿真數據可以看出,β的變化對負載電流和輸出電壓之間相關(guān)性的影響相對較小。鑒于這些結果,采用類(lèi)似于Wilson電流鏡的配置似乎并沒(méi)有必要。
 
圖2和圖3顯示了用恒流源產(chǎn)生Iref的替代解決方案。如果Vss穩定且沒(méi)有紋波,則可以省略恒流源發(fā)生器,并且可以通過(guò)設定Rd值來(lái)提供Iref。
 
采用低壓晶體管進(jìn)行高壓電流檢測
圖2:用恒流源產(chǎn)生Iref的替代解決方案。
 
采用低壓晶體管進(jìn)行高壓電流檢測
圖3:設置FET偏置,使啟動(dòng)時(shí)Iref不會(huì )導致Vce或Vds超過(guò)最大值。
 
圖4所示的電路反轉了Vout-,消除了偏移,并將輸出調整到所需范圍,同時(shí)還可以過(guò)濾輸出端出現的電源紋波或負載尖峰。若配以帶有ADC的微控制器,則可以將電路簡(jiǎn)化為僅反轉Vout-。
 
采用低壓晶體管進(jìn)行高壓電流檢測
圖4:反轉Vout-消除了偏移,將輸出調整到所需范圍,并可以過(guò)濾輸出端的電源紋波或負載尖峰。
 
如果滿(mǎn)載時(shí)VRe1至少比VRsense大10倍,那么Q2將不會(huì )進(jìn)入飽和狀態(tài),并且:
 
采用低壓晶體管進(jìn)行高壓電流檢測

Iref=IRe1,無(wú)負載,即Iload=0,那么:
 
采用低壓晶體管進(jìn)行高壓電流檢測

Vccs是恒流源兩端的電壓,IRe1約等于Iref,Vbe可以為0.6到0.65V:
 
采用低壓晶體管進(jìn)行高壓電流檢測

Vce是Q2上無(wú)負載時(shí)所需的最大電壓。IRe2約等于Iref,那么:
 
 
采用低壓晶體管進(jìn)行高壓電流檢測
 
Vout-無(wú)負載時(shí)所需的失調電壓決定了Rc1的值:
 
采用低壓晶體管進(jìn)行高壓電流檢測
 
由于I(Rsense)=Iref/10,因此可以估算滿(mǎn)載時(shí)的IRe2:
 
采用低壓晶體管進(jìn)行高壓電流檢測

 
在最大負載電流下,Vout−的滿(mǎn)量程值約為:
 
采用低壓晶體管進(jìn)行高壓電流檢測
 
采用LTspice電路仿真軟件產(chǎn)生圖5、圖6和圖7的曲線(xiàn),以顯示電路工作期間的線(xiàn)性度、濾波效果以及Vce和Vds。負載電流從0增加到1安培,輸出電壓疊加在負載電流上。其結果與實(shí)際的電路性能非常接近。
 
由于負載電流尖峰值持續時(shí)間短,濾波防止了跳閘。隔離雖可能沒(méi)有必要,但在設計高壓電路時(shí)應始終予以考慮。
 
采用低壓晶體管進(jìn)行高壓電流檢測
圖5:將圖4中25nF的電容C1去掉后的Vout。
 
采用低壓晶體管進(jìn)行高壓電流檢測
圖6:圖4中加上25nF電容C1時(shí)的Vout。
 
采用低壓晶體管進(jìn)行高壓電流檢測
圖7:有源設備上的電壓。
 
 
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