- 把讀/寫(xiě)的訪(fǎng)問(wèn)周期分離開(kāi)來(lái)測量DDR2存儲設備
- 力科的WaveScan波形搜索與掃描特性可以找出Data信號
- WaveScan把測量過(guò)濾中所有符合測量標準的波形累積起來(lái)形成掃描疊加的軌跡圖
- 這幅余輝圖包含了全部捕獲的歷史波形軌跡
測量DDR2存儲設備需要把讀/寫(xiě)的訪(fǎng)問(wèn)周期分離開(kāi)來(lái)。在DDR2中通過(guò)Strobe和Data總線(xiàn)之間的關(guān)系可以區分出來(lái)讀和寫(xiě)的操作。如圖1所示，在讀操作時(shí)Data和Strobe的跳變是同步的，而在寫(xiě)操作時(shí)Strobe的跳變則領(lǐng)先于Data。我們利用這種時(shí)序上的差異就可以分離出讀操作和寫(xiě)操作。在圖1中，較低幅值的“讀”操作時(shí)，Data跳變與Strobe跳變同時(shí)發(fā)生，較高幅值的“寫(xiě)”操作時(shí)，Strobe信號會(huì )領(lǐng)先于Data信號約750ps跳變。
圖 1: DDR2 波形顯示了 Strobe (紅色) 和 Data (黃色)信號之間的時(shí)序關(guān)系
力科的WaveScan波形搜索與掃描特性可以通過(guò)選擇Strobe和掃描疊加（ScanOverlay）圖中滿(mǎn)足條件的波形之間的時(shí)序關(guān)系找出Data信號。圖2是這種功能的一個(gè)例子。WaveScan的對話(huà)框設置為搜索建立時(shí)間（Hold Time）在500ps到1ns(750 ±250 ps)之間的波形。對話(huà)框右邊的標簽用來(lái)鑒別Strobe和Data信號。注意“Hold Clock”和“Hold Data”兩個(gè)對話(huà)框標簽，測量是對這兩個(gè)信號邊沿設定的。
圖2: 基于Data和Strobe信號跳變之間的保持時(shí)間用WaveScan隔離出寫(xiě)操作
圖3顯示的是一個(gè)“risetime ”參數應用在掃描疊加軌跡中的例子。掃描疊加軌跡圖僅僅包括由WaveScan隔離出來(lái)的寫(xiě)操作周期。
圖 3: P3 測量的是僅包含寫(xiě)操作的掃描疊加軌跡中的每一個(gè)脈沖的上升時(shí)間（risetime）
圖4顯示的是另一項測量技術(shù)。在這里，被選定的一組寫(xiě)周期用掃描縮放（ScanZoom）分離出來(lái)。參數門(mén)限進(jìn)一步隔離出僅有12個(gè)寫(xiě)周期并僅在信號正邊沿測量出兩個(gè)信號的時(shí)間差（P4）。WaveScan為您提供了一種可以測定DDR2設備的工具。
圖4: 使用ScanZoom和參數門(mén)限測量選定的寫(xiě)操作
WaveScan會(huì )在左邊顯示的表格中列出每次捕獲中符合測量條件的所有波形特征。觸摸列表時(shí)會(huì )自動(dòng)的對被選擇的特征放大顯示。這個(gè)例子中顯示的是一組“寫(xiě)”操作狀態(tài)的縮放。每個(gè)符合測量標準的操作就像顯示出來(lái)的那樣用一個(gè)紅色方框描繪出輪廓。
WaveScan把測量過(guò)濾中所有符合測量標準的波形累積起來(lái)形成掃描疊加的軌跡圖（圖2中間的軌跡）。這幅余輝圖包含了全部捕獲的歷史波形軌跡。我們現在就可以對被選擇出來(lái)的整個(gè)波形組在掃描疊加軌跡圖上應用測量參數進(jìn)行測量。你也可以在被選擇波形的縮放軌跡上應用測量參數進(jìn)行測量。
