其原因可能有以下幾點(diǎn)：

 

1.  在測試中，未正確進(jìn)行測量或未在指定的測量條件內進(jìn)行測量.

 

2.  測試中所用的儀表設置可能不正確，或者使用的測量設備不足以準確測量MLCC。

 

3.  這些物料不應包含在所列的規格范圍中——點(diǎn)擊這里獲取更多信息。

 

以下是我們建議的測試步驟和檢查清單，以幫助工程師明確他們在測量過(guò)程中需要注意的內容。

 

第 1 部分：測量要求

 

測量頻率和電壓對于正確測量陶瓷電容的值而言是非常重要的。請查看廠(chǎng)商和系列，并在規格書(shū)中找到你的電容，以確認所需的測量頻率和電壓。

 

[建議的檢查清單]

 

測量頻率：_______________________ Hz

 

測量電壓：_______________________ V

 

第 2 部分：測量設備要求和設置

 

由于大多數萬(wàn)用表無(wú)法進(jìn)行配置以滿(mǎn)足某個(gè)電容的特定測量條件，因此通常使用LCR表來(lái)測量MLCC電容值。盡量使用測量夾具，以便在測量過(guò)程中保持樣品的穩定性。然后打開(kāi)LCR表的自動(dòng)電平控制 (ALC) 功能。

 

圖1：打開(kāi)ALC后，電壓電平顯示屏上就會(huì )出現“*”符號（了解為什么要打開(kāi)ALC，點(diǎn)擊這里）

 

[建議的檢查清單]

 

是否使用夾具（是或否）：_______

 

是否打開(kāi)自動(dòng)電平控制（ALC）（是或否）：_______

 

第 3 部分：加熱處理（去老化）

 

由于物理結構的原因，2類(lèi)（高介電常數）MLCC電容值會(huì )隨著(zhù)時(shí)間的推移而逐漸減少。該屬性稱(chēng)為電容的“老化” 現象。這就是為什么客戶(hù)有時(shí)會(huì )發(fā)現其電容的電容值低于對應的規格。一般來(lái)說(shuō)，在150℃（+0/-10℃）下經(jīng)加熱處理（烘烤）1小時(shí)，并在室溫下冷卻24小時(shí)（+/-2小時(shí)）后，電容值可以恢復到所述規格。

 

因此在測量電容值之前，應在150℃+0/-10℃下加熱電容1小時(shí)，并在環(huán)境空氣中將其冷卻24±2小時(shí)。（了解為什么只有2類(lèi)電容需要去老化，可點(diǎn)擊這里）

 

[建議的檢查清單]

 

哪一類(lèi)MLCC（1類(lèi)-C0G或NP0/ 2類(lèi)-除C0G或NP0以外的其他電容）：_______

 

該樣品是否在150℃+0/-10℃下加熱（烘烤）1小時(shí)，并在環(huán)境溫度中保持冷卻24±2小時(shí)？（是或否）：_______

 

來(lái)源： Digi-Key