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低邊開(kāi)關(guān)導通時(shí)的Gate-Source間電壓的動(dòng)作

發(fā)布時(shí)間:2022-01-19 責任編輯:lina

【導讀】上一篇文章中,簡(jiǎn)單介紹了SiC MOSFET橋式結構中柵極驅動(dòng)電路的開(kāi)關(guān)工作帶來(lái)的VDS和ID的變化所產(chǎn)生的電流和電壓情況。本文將詳細介紹SiC MOSFET在LS導通時(shí)的動(dòng)作情況。


上一篇文章中,簡(jiǎn)單介紹了SiC MOSFET橋式結構中柵極驅動(dòng)電路的開(kāi)關(guān)工作帶來(lái)的VDS和ID的變化所產(chǎn)生的電流和電壓情況。本文將詳細介紹SiC MOSFET在LS導通時(shí)的動(dòng)作情況。


SiC MOSFET低邊開(kāi)關(guān)導通時(shí)的Gate-Source間電壓的動(dòng)作


當SiC MOSFET的LS導通時(shí),首先ID會(huì )變化(下述波形示意圖T1)。此時(shí)LS的ID沿增加方向、HS的ID沿減少方向流動(dòng),受下述等效電路圖中所示的事件(I)影響,在圖中所示的極性產(chǎn)生公式(1)的電動(dòng)勢。公式(1)與上一篇文章中使用的公式相同。該電動(dòng)勢引起的電流將源極側作為正極對CGS進(jìn)行充電,因此在LS會(huì )將VGS向下推,在HS會(huì )將VGS向負極側拉,使之產(chǎn)生負浪涌(波形示意圖VGS的T1)。


3-0.png


3-1.png


低邊開(kāi)關(guān)導通時(shí)的Gate-Source間電壓的動(dòng)作


當ID的變化結束時(shí),LS的VDS的電位降低(波形示意圖T2)。所以,公式(2)中的電流就像等效電路圖中的(II)-1、(II)-2那樣流動(dòng),并且VGS會(huì )分別引發(fā)下列公式(3)、(4)中的電壓上升。


低邊開(kāi)關(guān)導通時(shí)的Gate-Source間電壓的動(dòng)作


VDS剛剛開(kāi)始變化后,公式(3)的VGS上升為主,隨著(zhù)時(shí)間的推移,公式(4)的VGS也開(kāi)始上升。也就是說(shuō),MOSFET的CGD/CGS比、驅動(dòng)電路的RG_EXT、柵極驅動(dòng)信號圖形布線(xiàn)的電感值LTRACE具有很大影響。


如等效電路圖所示,HS中的(II)-2的電流ICGD2處于VGS提升方向。因此,本來(lái)應該處于OFF狀態(tài)的HS因VGS的提升而開(kāi)始了導通工作。這種現象稱(chēng)為“誤啟動(dòng)”。當HS發(fā)生誤啟動(dòng)時(shí),就會(huì )與LS的導通工作重疊,致使HS和LS的MOSFET同時(shí)導通,從而引發(fā)直通電流。


ICGD2會(huì )持續流動(dòng)到LS的導通工作結束,并被積蓄在LTRACE中,但會(huì )在VSW變化結束的時(shí)間點(diǎn)消失,LTRACE產(chǎn)生電動(dòng)勢。這就是事件(III)。受RG_EXT等開(kāi)關(guān)條件影響,ICGD2可能會(huì )達到幾安培,并且該電動(dòng)勢可能會(huì )增加。


受上述事件(I)、(II)、(III)的影響,LS導通后的Gate-Source電壓呈現出波形示意圖中所示的動(dòng)作。波形示意圖和等效電路圖的相同編號表示同一事件。另外,圖中VGS的虛線(xiàn)波形表示理想的波形。


外置柵極電阻的影響


下面是SiC MOSFET橋式結構的LS導通時(shí)的雙脈沖測試結果。(a)波形圖的外置柵極電阻RG_EXT為0Ω,(b)為10Ω。圖中的(I)、(II)、(III)同前面相應編號的事件。


低邊開(kāi)關(guān)導通時(shí)的Gate-Source間電壓的動(dòng)作


比較(a)和(b)的波形可以看出,RG_EXT越小,由事件(I)引起的VGS下降就越大。此外,由于開(kāi)關(guān)速度非???,因此事件(III)在(a)中很突出;但由于RG_EXT為0Ω,因此幾乎沒(méi)有觀(guān)察到事件(II)的波形。另一方面,在(b)中,事件(II)-2和RG_EXT引起的VGS升程明顯。


從該結果可以清楚地看出,要想降低誘發(fā)LS導通時(shí)HS誤啟動(dòng)的事件(II)-2的VGS升程,就需要減小HS關(guān)斷時(shí)的外置柵極電阻RG_EXT。然而,多數情況下,HS和LS的RG_EXT是相同的,因此,當減小RG_EXT時(shí),LS的dVDS/dt將增加,如公式(1)所示,HS的ICGD會(huì )增加。從公式(4)可以看出,結果會(huì )導致HS浪涌升高。


有一種對策方法是,使導通時(shí)和關(guān)斷時(shí)的RG_EXT分離,并且僅減小關(guān)斷時(shí)的RG_EXT。常規方法是使用二極管的方法,如右圖所示。使用這種方法,在導通狀態(tài)下工作的電阻只有RG_ON,而在關(guān)斷狀態(tài)下,二極管導通并成為RG_ON和RG_OFF的并聯(lián)電阻。因此,相對于導通時(shí)的電阻值,關(guān)斷時(shí)的電阻值變小。


低邊開(kāi)關(guān)導通時(shí)的Gate-Source間電壓的動(dòng)作


另外,與最前面說(shuō)明中使用的波形示意圖不同,HS的VGS波形之所以在緊靠事件(I)之前的位置向正極側振蕩,是因為事件(I)的電流開(kāi)始流動(dòng)的瞬間LSOURCE引起的電動(dòng)勢在通過(guò)CGS后立即被觀(guān)測到了。

(來(lái)源:Rohm)


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