【導讀】在尋找EMC相關(guān)資料時(shí)發(fā)現某國外emc大神寫(xiě)的關(guān)于ESD的測試報告，該報告對pcb layout非常有參考價(jià)值，從實(shí)際測試出發(fā)，由表象反應理論，因此將該英文測試報告翻譯并提煉出來(lái)呈現給大家，希望此文章對各位硬件工程師有所幫助。
在普通的雙面板子上，焊有兩條導電測試路徑（如圖1），導線(xiàn)A，線(xiàn)路連續，且正下方貼有30cm銅箔。導線(xiàn)B，有1/3段線(xiàn)路走底層，且正下方貼的銅箔不連續。
圖1
測試板右端為3kv ESD靜電施加放電點(diǎn)（端接47ohm負載阻抗），左端SMA接口與示波器連接,測試布置如圖2。
圖2
測試結果如圖3，圖4。
圖3
圖4
從圖3和圖4能看出，導線(xiàn)A在負載端接收到的ESD雜訊振幅，比導線(xiàn)B接收到的小很多。
繼續做另一個(gè)實(shí)驗，同樣是兩條導線(xiàn)，導線(xiàn)C線(xiàn)路連續且下方鋪設銅箔，但在線(xiàn)路下方用刀割出一道劃痕（“地”被割開(kāi)），導線(xiàn)D線(xiàn)路連續，且下方鋪設銅箔完整。測試布置如圖5。
圖5
相同的測試布置，對兩條導線(xiàn)施加3KV ESD電壓。測試結果如下圖（圖6，圖7）。
圖6
圖7
從圖6和圖7看出，地不連續的路徑，其ESD所產(chǎn)生的噪聲會(huì )引發(fā)更嚴重的效應。
總結
當系統信號線(xiàn)遭受到ESD噪聲干擾時(shí)，必然會(huì )產(chǎn)生干擾信號的回流路徑，大部分情況此回流路徑會(huì )走低阻抗的參考地，且緊貼著(zhù)信號線(xiàn)回到源端（最小環(huán)路面積）。當地被隔開(kāi)后，原ESD噪聲的回流路阻抗增大，為了繞開(kāi)割地凹槽，回流路徑將會(huì )改變，回流面積也會(huì )增大，根據天線(xiàn)效應，此時(shí)ESD回路上感應到的噪聲也會(huì )相應的增加，因此大部分情況下PCB割地將會(huì )導致ESD測試的惡化。
